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概述:检测项目1.耦合效率:测量范围90%-99.9%,精度0.2%2.插入损耗:测试波长范围1260-1650nm,分辨率0.01dB3.回波损耗:最大测试值60dB@1550nm4.偏振相关损耗(PDL):测量精度0.02dB5.温度稳定性:-40℃至+85℃循环测试检测范围1.单模/多模光纤适配器2.保偏光纤耦合器件3.激光二极管TO-CAN封装组件4.MEMS光开关阵列模块5.硅基光子集成芯片光栅耦合器检测方法ASTME2109-20《光纤器件插入损耗测试规程》ISO/IEC61755-3:2018《光
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1.耦合效率:测量范围90%-99.9%,精度0.2%
2.插入损耗:测试波长范围1260-1650nm,分辨率0.01dB
3.回波损耗:最大测试值60dB@1550nm
4.偏振相关损耗(PDL):测量精度0.02dB
5.温度稳定性:-40℃至+85℃循环测试
1.单模/多模光纤适配器
2.保偏光纤耦合器件
3.激光二极管TO-CAN封装组件
4.MEMS光开关阵列模块
5.硅基光子集成芯片光栅耦合器
ASTME2109-20《光纤器件插入损耗测试规程》
ISO/IEC61755-3:2018《光纤连接器光学特性》
GB/T18311.3-2018《纤维光学互连器件试验方法第3部分:衰减和回波损耗》
TIA/EIA-455-203-A《偏振保持光纤特性测量》
IEC61300-2-48:2019《环境试验程序温度循环》
1.EXFOFTB-8800光波导分析仪:支持128通道并行测试
2.KeysightN7788B偏振分析仪:波长范围1250-1650nm
3.ILXLightwaveFPM-8220光功率计:动态范围+3dBm至-90dBm
4.NewportTSE-600-M温度冲击箱:温变速率15℃/min
5.AnritsuMS9740B光谱分析仪:分辨率带宽0.02nm
6.OZOpticsMPS-3116多通道插损测试系统
7.ThorlabsPAX5710偏振控制器:消光比>35dB
8.AgilentE8364C矢量网络分析仪:频率范围10MHz-40GHz
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"矢耦检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
专业分析各类金属、非金属材料的成分、结构与性能,提供全面检测报告和解决方案。包括金属材料力学性能测试、高分子材料老化试验、复合材料界面分析等。
精准检测各类化工产品的成分、纯度及物理化学性质,确保产品质量符合国家标准。服务涵盖有机溶剂分析、催化剂表征、高分子材料分子量测定等。
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