检测项目
1.耦合效率：测量范围90%-99.9%，精度0.2%
2.插入损耗：测试波长范围1260-1650nm，分辨率0.01dB
3.回波损耗：最大测试值60dB@1550nm
4.偏振相关损耗（PDL）：测量精度0.02dB
5.温度稳定性：-40℃至+85℃循环测试
检测范围
1.单模/多模光纤适配器
2.保偏光纤耦合器件
3.激光二极管TO-CAN封装组件
4.MEMS光开关阵列模块
5.硅基光子集成芯片光栅耦合器
检测方法
ASTME2109-20《光纤器件插入损耗测试规程》
ISO/IEC61755-3:2018《光纤连接器光学特性》
GB/T18311.3-2018《纤维光学互连器件试验方法第3部分：衰减和回波损耗》
TIA/EIA-455-203-A《偏振保持光纤特性测量》
IEC61300-2-48:2019《环境试验程序温度循环》
检测设备
1.EXFOFTB-8800光波导分析仪：支持128通道并行测试
2.KeysightN7788B偏振分析仪：波长范围1250-1650nm
3.ILXLightwaveFPM-8220光功率计：动态范围+3dBm至-90dBm
4.NewportTSE-600-M温度冲击箱：温变速率15℃/min
5.AnritsuMS9740B光谱分析仪：分辨率带宽0.02nm
6.OZOpticsMPS-3116多通道插损测试系统
7.ThorlabsPAX5710偏振控制器：消光比＞35dB
8.AgilentE8364C矢量网络分析仪：频率范围10MHz-40GHz