检测项目
1.铍元素含量测定（BeO≥0.1%时误差0.02%，Be金属纯度≥99.95%）
2.粒度分布分析（D50值范围0.5-200μm，跨度系数≤1.2）
3.密度测试（真密度2.85-3.02g/cm，振实密度偏差≤0.05g/cm）
4.化学成分全谱分析（Al≤0.3%、Fe≤0.15%、Si≤0.1%）
5.α放射性活度检测（U+Th总量＜1Bq/g）
检测范围
1.铍铜合金（C17200/C17500系列）
2.氧化铍陶瓷基板（BeO含量96%-99.5%）
3.核反应堆中子反射材料（Be金属锭/板）
4.航天器惯性导航部件（Be-Al复合材）
5.X射线管铍窗组件（厚度0.1-0.5mm）
检测方法
1.ASTMD5673-16《电感耦合等离子体质谱法测定高纯铍》
2.ISO13320:2020《激光衍射法粒度分析通则》
3.GB/T17473.7-2008《电子材料中铍的化学分析方法》
4.ASTMC1233-15《核级铍材化学标准指南》
5.GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全标准》
检测设备
1.Agilent7900ICP-MS（检出限0.01ppb）
2.MalvernMastersizer3000激光粒度仪（量程0.01-3500μm）
3.RigakuSmartLabX射线衍射仪（精度0.0001）
4.PerkinElmerNexION350D质谱联用系统
5.QuantachromeUltrapyc5000真密度仪（分辨率0.0001g/cm）
6.CanberraBE5030α能谱仪（能量分辨率＜18keV）
7.NetzschSTA449F3同步热分析仪（温度精度0.1℃）
8.BrukerS8TIGER波长色散X荧光光谱仪
9.ShimadzuEDX-7000能量色散光谱仪
10.SartoriusCPA225D微量天平（精度0.01mg）