柱状衍射花样检测

检测项目

1.晶面间距测量：d值范围0.05-3.2nm（0.0001nm）
2.衍射角精度校准：2θ角度范围5-150（误差≤0.01）
3.半高宽分析：FWHM测量精度0.005
4.峰强比计算：相对强度误差≤1%
5.择优取向度测定：织构系数TC值范围0-5

检测范围

1.金属材料：铝合金/钛合金锻件、高温合金涡轮叶片
2.无机非金属材料：氧化铝陶瓷基板、碳化硅涂层
3.高分子材料：聚乙烯单晶薄膜、聚丙烯纤维
4.纳米材料：量子点阵列、金属有机框架化合物
5.半导体材料：硅外延片、氮化镓薄膜

检测方法

1.ASTME975-20残余应力X射线衍射测定标准
2.ISO17025:2017实验室质量体系规范
3.GB/T23413-2009纳米材料晶粒尺寸测定方法
4.JISK0131-2016X射线衍射定量分析通则
5.GB/T30704-2014晶体取向电子背散射衍射分析方法

检测设备

1.RigakuSmartLabX射线衍射仪：配备9kW旋转阳极光源，支持高分辨率HRXRD分析
2.BrukerD8ADVANCEDavinci设计：具备LynxEye阵列探测器，适用薄膜材料分析
3.PANalyticalEmpyrean锐影系统：配置PIXcel3D探测器，支持三维衍射成像
4.MalvernPanalyticalX'Pert3MRDXL：配备高精度测角仪（精度0.0001）
5.ShimadzuXRD-7000：配置高温附件（最高1600℃），支持原位相变研究
6.ThermoScientificARLEQUINOX100：采用弯曲位敏探测器，实现快速数据采集
7.AntonPaarHTK1200N高温腔室：支持真空环境下（10^-5mbar）的衍射测试
8.OxfordInstrumentsAztecCrystalEBSD系统：配备NordlysMax3探测器
9.ProtoLXRD残余应力分析仪：专用便携式设备（重量18kg）
10.HUBERG670Guinier相机：单色化CuKα1辐射（λ=1.54056）

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"柱状衍射花样检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。