检测项目

1.化学成分分析：测定Sm含量（≥99.5%）、S含量（≤33.5%）、杂质元素（Fe≤0.01%、O≤0.3%）
2.晶体结构表征：XRD分析晶型（立方相Fm-3m）、晶格常数（a=0.8390.002nm）
3.粒度分布测试：D50粒径（1-5μm）、比表面积（2-8m/g）
4.氧含量测定：氧氮氢分析仪测量总氧量（≤500ppm）
5.密度测试：真密度（6.820.05g/cm）、振实密度（3.2-3.8g/cm）

检测范围

1.高纯硫化钐粉末（4N级及以上）
2.稀土硫化物靶材（磁控溅射用）
3.半导体掺杂材料（电子迁移率≥150cm/Vs）
4.荧光基质材料（发光效率≥85%）
5.核反应堆中子吸收材料（热中子截面≥50000barn）

检测方法

1.GB/T18115.5-2006《稀土金属及其氧化物化学分析方法》
2.ISO20203:2005《X射线衍射定量相分析》
3.ASTMB822-20《金属粉末粒度分布标准测试》
4.GB/T4336-2016《碳硫分析仪法测定碳硫含量》
5.ISO18754:2020《精细陶瓷密度测定》

检测设备

1.RigakuSmartLab9kWX射线衍射仪：全自动θ-θ测角仪，Cu靶Kα辐射
2.PerkinElmerOptima8300ICP-OES：轴向观测等离子体，检出限≤0.1ppm
3.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm
4-LECOONH836氧氮氢分析仪：脉冲炉加热温度≥3000℃
5.MicromeriticsAccuPycII1340真密度仪：氦气置换法精度0.03%
6.QuantachromeAutotap振实密度仪：标准ASTM振幅3mm10%
7-HitachiSU5000场发射电镜：分辨率1nm@15kV
8.NetzschSTA449F3同步热分析仪：TG-DSC联用精度0.1μg
9-Agilent7900ICP-MS：质量数范围2-260amu
10.BrukerD8ADVANCEX荧光光谱仪：4kW陶瓷X光管