检测项目

1.铱纯度分析：采用ICP-OES/MS测定纯度≥99.95%，杂质元素（Pt/Pd/Rh/Ru）总量≤500ppm

2.元素分布映射：通过EPMA进行微区成分分析（分辨率≤1μm），测定Ir元素偏析度≤3%

3.密度测试：阿基米德法测定致密度≥98.5%，孔隙率≤0.2%

4.维氏硬度：载荷500gf下HV0.5≥2200MPa

5.高温氧化性能：1200℃/100h氧化增重≤0.15mg/cm

检测范围

1.铱金属锭及合金材料（Ir-10%W合金/Ir-30%Rh合金）

2.半导体用高纯铱溅射靶材（纯度≥99.995%）

3.航空发动机用铱基高温合金涂层

4.氯碱工业用铱钛阳极涂层（IrO₂-TiO₂复合层）

5.放射性同位素容器用铱封装材料

检测方法

1.ASTME1479-16《ICP-MS法测定贵金属杂质》

2.ISO11876:2010《硬质合金中铱含量测定》

3.GB/T17433-2014《X射线荧光光谱法测定贵金属成分》

4.GB/T1423-1996《贵金属材料密度测试规范》

5.ASTMB962-17《金属粉末冶金制品孔隙率测定》

检测设备

1.ThermoFisheriCAPRQICP-MS（检出限0.01ppb）

2.ShimadzuEPMA-1720H电子探针（空间分辨率0.5μm）

3.BrukerS8TIGERX射线荧光光谱仪（Rh靶4kW）

4.MettlerToledoXPE205密度天平（精度0.0001g/cm）

5.ZwickRoellZHV30显微硬度计（载荷范围10gf-30kgf）

6.NetzschSTA449F3同步热分析仪（最高温度1600℃）

7.ZeissSigma500场发射扫描电镜（分辨率0.8nm）

8.MalvernMastersizer3000激光粒度仪（测量范围0.01-3500μm）

9.Agilent7900ICP-OES（轴向观测等离子体系统）

10.Instron5985万能试验机（载荷容量150kN）