推斥势检测

检测项目

1.表面电荷密度：测量范围110⁻⁹~510⁻⁴C/m，分辨率0.1pC

2.电位衰减特性：记录10s~24h内电位下降至初始值50%所需时间

3.介电常数测定：频率范围20Hz~1MHz，精度0.05%

4.电场强度分布：三维场强测绘精度0.5kV/m

5.电荷迁移率：载流子迁移率测试范围10⁻⁵~10⁻cm/(Vs)

检测范围

1.高分子绝缘材料：聚四氟乙烯（PTFE）、聚酰亚胺（PI）薄膜

2.半导体晶圆：硅片（Si）、碳化硅（SiC）基板

3.功能涂层：防静电涂料、抗粘连涂层

4.电子封装材料：环氧模塑料（EMC）、底部填充胶

5.储能器件介质：超级电容器隔膜、锂电隔膜陶瓷涂层

检测方法

ASTMD257-14《绝缘材料直流电阻测试》

ISO16790:2020《塑料薄膜表面电阻率测定》

GB/T1410-2006《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》

IEC62631-3-1:2016《介电和电阻特性测量规范》

GB/T31838.4-2021《固体绝缘材料介电强度试验方法》

检测设备

1.KeysightB1505A功率器件分析仪：支持10kV高压扫描及nA级漏电流检测

2.TrekModel347静电计：分辨率0.1V，最大测量电压20kV

3.HIOKIIM3570阻抗分析仪：4端对测量精度达0.08%

4.Keithley6517B静电计：最小电流测量0.01fA

5.Electro-TechSystemsModel279电荷衰减测试系统：符合MIL-STD-1686标准

6.MitsubishiChemicalHV-S450表面电位计：非接触式测量精度3%

7.AgilentE4980AL精密LCR表：1MHz下基本精度0.05%

8.SimcoFMX-003静电场测试仪：三维场强测绘功能

9.MonroeElectronicsModel284A静电衰减测试仪：时间分辨率1ms

10.TREKP0865旋转电极系统：符合ASTMD257标准接触电阻测试

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"推斥势检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。