检测项目

插入损耗：≤1.0 dB @1310/1550 nm

回波损耗：≥50 dB

偏振相关损耗：≤0.1 dB

方向性：≥55 dB

温度循环性能：-40℃~+75℃ 下损耗变化≤0.2 dB

分光比一致性：±2%

机械耐久性：≥500次插拔后性能稳定

检测范围

单模光纤：G.652D/G.657.A1/G.654.E等

连接器类型：FC/PC、SC/APC、LC/UPC

熔融拉锥型耦合器

平面波导型耦合器

保偏光纤耦合器

高密度阵列耦合器

光纤适配器与转接组件

检测方法

插入损耗测试：IEC 61755-3-1:2018

回波损耗测量：GB/T 18311.3-2001

偏振特性分析：TIA-455-220-A:2003

环境试验：GR-1209-CORE:2022

机械可靠性：IEC 61300-2-17:2020

几何参数检测：ISO/IEC 14763-3:2021

光谱响应测试：GB/T 15972.42-2021

检测设备

光功率计：EXFO FTB-500，精度±0.02 dB

光谱分析仪：Yokogawa AQ2200-321，波长范围1200-1650 nm

偏振分析系统：General Photonics PCD-104，分辨率0.001 dB

环境试验箱：Espec PL-3KPH，温控精度±0.5℃

光纤几何分析仪：Norland AC-300，芯径测量精度±0.1 μm

插拔寿命测试机：FITEL S-315，最大测试频率30次/分钟

三维自动对准系统：Newport AG-UC8，定位精度±0.1 μm