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概述:检测项目1.电子密度:测量范围110^9~110^12cm^-3,精度5%2.离子温度:检测区间300~50000K,分辨率0.1eV3.中性气体分压:量程0.1~1000Pa,误差≤2%FS4.自由基浓度:可测OH/O/H等基团浓度至ppm级5.激发态粒子寿命:时间分辨率达10ns级6.气体纯度:检出限0.01%vol(惰性气体)检测范围1.半导体晶圆刻蚀工艺腔体气氛2.光伏薄膜沉积用SiH4/NH3混合气体3.医用灭菌设备等离子体反应区4.工业废气处理低温等离子体系统5.航天器推进剂电离室工作气体6.
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.电子密度:测量范围110^9~110^12cm^-3,精度5%
2.离子温度:检测区间300~50000K,分辨率0.1eV
3.中性气体分压:量程0.1~1000Pa,误差≤2%FS
4.自由基浓度:可测OH/O/H等基团浓度至ppm级
5.激发态粒子寿命:时间分辨率达10ns级
6.气体纯度:检出限0.01%vol(惰性气体)
1.半导体晶圆刻蚀工艺腔体气氛
2.光伏薄膜沉积用SiH4/NH3混合气体
3.医用灭菌设备等离子体反应区
4.工业废气处理低温等离子体系统
5.航天器推进剂电离室工作气体
6.光学镀膜机反应气体离解度
ASTME3025-18:射频等离子体诊断标准方法
ISO21438-3:2011:工作场所空气电离辐射检测
GB/T20176-2006:表面化学分析二次离子质谱法
GB/T34826-2017:四极杆质谱分析方法通则
ISO14624-7:2022:航天系统材料洁净度检测规范
ASTMF1394-92(2020):半导体工艺真空系统检漏
1.HidenESPion等离子体诊断系统:配备Langmuir探针和质谱联用模块
2.Agilent8900ICP-MS/MS:三重四极杆质谱仪支持ppq级检测
3.PfeifferVacuumQMG700:四极杆质谱仪(1-100amu)
4.OceanInsightHR4000光谱仪:200-1100nm波长分辨率0.035nm
5.KeysightN9020B信号分析仪:26.5GHz实时频谱分析
6.StanfordResearchSR570电流放大器:低噪声(4pA/√Hz)
7.MKS925B真空计组:量程10^-5~1000Torr全量程覆盖
8.TektronixMDO3104示波器:1GHz带宽带频谱分析
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"等离子体气体检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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