共聚焦显微镜检测

检测项目

1.表面形貌分析：横向分辨率≤120nm，纵向分辨率≤5nm，扫描速度≥30fps（512512像素）

2.荧光标记定位：激发波长405-640nm可调，光谱分辨率≤5nm，光子计数动态范围10^6

3.膜层厚度测量：测量精度1.5%，Z轴重复定位精度≤10nm

4.微区反射率测试：物镜NA≥0.95，光斑直径≤200nm

5.三维重构分析：层切厚度0.1-10μm可调，最大重构深度200μm

检测范围

1.半导体材料：晶圆表面缺陷检测、光刻胶形貌分析

2.生物样品：细胞器三维定位、组织切片荧光标记定量

3.高分子材料：聚合物相分离结构表征、涂层界面分析

4.金属材料：微加工表面粗糙度（Ra≤0.01μm）、晶界腐蚀观测

5.光学薄膜：多层膜厚测量（1nm-50μm）、界面扩散层分析

检测方法

ASTME1813-14：荧光显微成像系统性能验证规范

ISO10993-18:2020：医疗器械生物相容性评价中的表面表征方法

GB/T18833-2019：光学薄膜厚度测量方法（共聚焦法）

ISO25178-607:2019：表面纹理分析的共聚焦显微测量要求

GB/T3505-2021：产品几何技术规范（GPS）表面结构轮廓法

检测设备

1.LeicaTCSSP8STED：配备白激光光源（470-670nm），STED超分辨模块（分辨率≤50nm）

2.ZeissLSM980withAiryscan2：32通道光谱探测器，最大扫描速度120fps@512512

3.OlympusFV3000RS：双扫描振镜系统，支持多光子成像（波长范围690-1300nm）

4.NikonA1RHD25：共振扫描器（30fps@10241024），压电陶瓷载物台（定位精度1nm）

5.KeyenceVK-X3000：3D形貌重建系统（Z轴测量范围10mm），支持自动边缘识别

6.BrukerContourElite：12nm光学分辨率，集成干涉测量模块

7.SensofarSneox：多模式系统（共聚焦/干涉/焦点变化），垂直分辨率0.01nm

8.ThorlabsBergamoII：模块化设计，支持双光子激发（波长680-1080nm）

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"共聚焦显微镜检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。