


纯度检测:二氧化锗含量(≥99.99%)
杂质元素分析:Fe、Cu、Ni、Pb、As(≤5 ppm)
晶型结构鉴定:四方相与六方相比例(XRD半定量)
粒度分布检测:D50值(0.5-10 μm范围)
水分及挥发物:105℃干燥失重(≤0.1%)
高纯二氧化锗粉末(电子级)
锗单晶生长原料(太阳能电池用)
红外光学镀膜材料
半导体前驱体(GeO2薄膜沉积材料)
催化剂载体(石油化工用)
ICP-MS法(ASTM E1479-16,GB/T 33324-2016)
X射线衍射法(ISO 20203:2005,GB/T 23413-2009)
激光粒度分析法(ISO 13320:2020,GB/T 19077-2016)
卡尔费休水分测定法(ISO 760:1978,GB/T 6283-2008)
热重分析法(ASTM E1131-20,GB/T 27761-2011)
Thermo Fisher iCAP RQ ICP-MS(痕量元素检测,检出限0.01 ppb)
Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪(2θ范围5°-160°,分辨率0.0001°)
Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪(测量范围0.01-3500 μm)
Mettler Toledo C30S卡尔费休水分仪(测量精度±1 μg)
PerkinElmer STA 8000同步热分析仪(温度范围25-1600℃)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"二氧化锗检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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