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概述:检测项目1.荷质比测定:测量范围1.758810^11C/kg0.0005%,分辨率0.001%2.电子速度分布:能量范围0.1-100keV,速度分辨率0.05%3.磁场均匀性:轴向梯度≤0.01mT/cm(1mT基准场)4.电场稳定性:电压波动≤0.005%(DC500V工况)5.真空系统本底压力:极限真空≤510^-4Pa(N2等效)检测范围1.III-V族半导体材料(GaAs、InP等)载流子迁移率验证2.场发射显示器(FED)阴极材料电子逸出功测试3.粒子加速器磁控管束流品质分析4.真空电子器件
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1.荷质比测定:测量范围1.758810^11C/kg0.0005%,分辨率0.001%
2.电子速度分布:能量范围0.1-100keV,速度分辨率0.05%
3.磁场均匀性:轴向梯度≤0.01mT/cm(1mT基准场)
4.电场稳定性:电压波动≤0.005%(DC500V工况)
5.真空系统本底压力:极限真空≤510^-4Pa(N2等效)
1.III-V族半导体材料(GaAs、InP等)载流子迁移率验证
2.场发射显示器(FED)阴极材料电子逸出功测试
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4.真空电子器件残余气体电离干扰评估
5.纳米碳管/石墨烯复合材料的电子输运特性表征
ASTMF617-19《半导体材料载流子迁移率标准测试方法》
ISO15962:2020《纳米材料电子特性测量通则》
GB/T13301-2021《电子荷质比测定磁偏转法》
IEC60747-5-3:2020《分立器件-光电器件测试规范》
GB/T32282-2015《真空电子器件通用规范》第4.3节
1.Agilent5977B四极质谱仪:残余气体成分定量分析(10^-12Torr灵敏度)
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报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"电子的比电荷检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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