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概述:检测项目1.波长范围:200-2500nm波段内的波谷定位精度(0.3nm)2.波谷深度:相对强度偏差≤0.5dB(基准值-30dB)3.半高宽:波谷两侧50%强度点间距(测量误差0.1nm)4.温度稳定性:-40℃至85℃环境下的波谷偏移量(≤0.15nm/℃)5.重复性误差:连续10次测量的RMS值≤0.05dB检测范围1.光学薄膜:增透膜/反射膜的透射曲线波谷分析2.光纤器件:FBG光栅的衰减谱特征检测3.滤光片:带阻/带通型滤光片的截止波长验证4.激光晶体:Nd:YAG晶体的吸收峰定位5.半导体材
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.波长范围:200-2500nm波段内的波谷定位精度(0.3nm)
2.波谷深度:相对强度偏差≤0.5dB(基准值-30dB)
3.半高宽:波谷两侧50%强度点间距(测量误差0.1nm)
4.温度稳定性:-40℃至85℃环境下的波谷偏移量(≤0.15nm/℃)
5.重复性误差:连续10次测量的RMS值≤0.05dB
1.光学薄膜:增透膜/反射膜的透射曲线波谷分析
2.光纤器件:FBG光栅的衰减谱特征检测
3.滤光片:带阻/带通型滤光片的截止波长验证
4.激光晶体:Nd:YAG晶体的吸收峰定位
5.半导体材料:GaAs基板的红外吸收特性测试
ASTME903-20:材料光谱透射率的标准测试方法(波长精度0.1nm)
ISO13697:2006:光学元件反射率测量规范(角度偏差≤0.1)
GB/T26332.4-2022:光学薄膜第4部分:光谱特性测试方法
GB/T18310.48-2022:纤维光学互连器件试验方法第48部分:光谱损耗测量
IEC60793-1-42:2021:光纤第1-42部分:衰减谱特性测试
1.PerkinElmerLambda1050+双光束分光光度计(190-3300nm,分辨率0.05nm)
2.AgilentCary7000全能型分光光度计(UV-Vis-NIR三波段同步测量)
3.BrukerVERTEX80v真空型傅里叶红外光谱仪(远红外波段检测)
4.ZygoVerifireMST激光干涉仪(表面形貌与波前分析)
5.YokogawaAQ6376光谱分析仪(1520-1620nm,分辨率0.02nm)
6.OceanInsightHR4000高分辨率光纤光谱仪(200-1100nm,2048像素CCD)
7.KeysightN7788B光波元件分析仪(1525-1610nm,动态范围70dB)
8.ThorlabsOSA205C紧凑型光谱仪(600-1700nm,16bitADC)
9.ShimadzuIRAffinity-21傅里叶变换红外光谱仪(7800-350cm⁻)
10.HoribaiHR550成像光谱仪(焦长550mm,1200gr/mm光栅)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"波谷检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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