检测项目
1.波长范围：200-2500nm波段内的波谷定位精度（0.3nm）
2.波谷深度：相对强度偏差≤0.5dB（基准值-30dB）
3.半高宽：波谷两侧50%强度点间距（测量误差0.1nm）
4.温度稳定性：-40℃至85℃环境下的波谷偏移量（≤0.15nm/℃）
5.重复性误差：连续10次测量的RMS值≤0.05dB
检测范围
1.光学薄膜：增透膜/反射膜的透射曲线波谷分析
2.光纤器件：FBG光栅的衰减谱特征检测
3.滤光片：带阻/带通型滤光片的截止波长验证
4.激光晶体：Nd:YAG晶体的吸收峰定位
5.半导体材料：GaAs基板的红外吸收特性测试
检测方法
ASTME903-20：材料光谱透射率的标准测试方法（波长精度0.1nm）
ISO13697:2006：光学元件反射率测量规范（角度偏差≤0.1）
GB/T26332.4-2022：光学薄膜第4部分：光谱特性测试方法
GB/T18310.48-2022：纤维光学互连器件试验方法第48部分：光谱损耗测量
IEC60793-1-42:2021：光纤第1-42部分：衰减谱特性测试
检测设备
1.PerkinElmerLambda1050+双光束分光光度计（190-3300nm,分辨率0.05nm）
2.AgilentCary7000全能型分光光度计（UV-Vis-NIR三波段同步测量）
3.BrukerVERTEX80v真空型傅里叶红外光谱仪（远红外波段检测）
4.ZygoVerifireMST激光干涉仪（表面形貌与波前分析）
5.YokogawaAQ6376光谱分析仪（1520-1620nm,分辨率0.02nm）
6.OceanInsightHR4000高分辨率光纤光谱仪（200-1100nm,2048像素CCD）
7.KeysightN7788B光波元件分析仪（1525-1610nm,动态范围70dB）
8.ThorlabsOSA205C紧凑型光谱仪（600-1700nm,16bitADC）
9.ShimadzuIRAffinity-21傅里叶变换红外光谱仪（7800-350cm⁻）
10.HoribaiHR550成像光谱仪（焦长550mm,1200gr/mm光栅）