分子电流检测

检测项目

1.分子层电流密度：测量范围10^-15~10^-3A/cm，分辨率0.1pA/cm

2.载流子迁移率：测试精度3%，温度范围-50℃~300℃

3.界面接触阻抗：频率范围1Hz~1MHz，阻抗分辨率0.01Ωcm

4.漏电流稳定性：持续监测72小时以上，数据采样间隔≤1秒

5.量子隧穿效应：电场强度0~10^6V/m，能带偏移量测量误差≤0.05eV

检测范围

1.III-V族半导体外延片（GaAs、InP等）

2.二维材料异质结（石墨烯/MoS₂、WS₂/WSe₂等）

3.有机发光二极管（OLED）空穴传输层

4.MEMS压电传感器导电薄膜

5.锂离子电池固态电解质界面相（SEI膜）

检测方法

1.ASTMF76-08(2020)：半导体材料横向电流分布测试规程

2.ISO16700:2019：扫描探针显微镜法测量纳米级电流特性

3.GB/T1551-2021：锗单晶电阻率直流四探针测量方法

4.IEC62607-3-1:2014：纳米制造-关键控制特性-第3-1部分：二维材料载流子迁移率

5.GB/T35011-2018：微纳加工技术术语与测试方法

检测设备

1.Keithley6517B静电计：最小电流分辨率0.01fA，电压范围0~1kV

2.AgilentB1500A半导体分析仪：支持100nV~100V信号输出/测量

3.OxfordInstrumentsCFMS-600低温强磁场系统：温度范围1.5K~300K，磁场强度9T

4.BrukerDimensionIcon原子力显微镜：导电AFM模式空间分辨率0.5nm

5.KeysightE4990A阻抗分析仪：频率范围20Hz~120MHz，基本精度0.8%

6.CascadeSummit12000探针台：支持12英寸晶圆级测试，定位精度0.1μm

7.LakeShoreCRX-VF低温探针台：温度控制范围4K~475K，真空度≤510^-6Torr

8.HoribaLabRAMHREvolution显微拉曼系统：空间分辨率<1μm，光谱范围200-1600cm⁻

9.ThermoFisherHeliosG4UXe双束电镜：束斑尺寸<0.8nm，配合STEM模块进行原位电学表征

10.ZygoNewView9000白光干涉仪：垂直分辨率0.1nm，用于电极表面形貌关联分析

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"分子电流检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。