单聚焦质谱仪检测

检测项目1.重金属元素定量分析:铅(Pb)、镉(Cd)、汞(Hg)等痕量元素检测限≤0.1ppb2.同位素比值测定:δ13C、δ15N精度0.05‰(VPDB标准)3.有机污染物筛查:多环芳烃(PAHs)分子量范围78-300Da4.半导体材料杂质分析:硅片中硼(B)、磷(P)检出限≤11013atoms/cm35.地质年代学研究:铀铅同位素(238U/206Pb)年龄测定误差1Ma检测范围1.环境监测样品:土壤沉积物、大气颗粒物、工业废水2.生物医药材料:血清蛋白组学样本、药物代谢产物3.食品及农产品

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检测项目

1.重金属元素定量分析:铅(Pb)、镉(Cd)、汞(Hg)等痕量元素检测限≤0.1ppb

2.同位素比值测定:δ13C、δ15N精度0.05‰(VPDB标准)

3.有机污染物筛查:多环芳烃(PAHs)分子量范围78-300Da

4.半导体材料杂质分析:硅片中硼(B)、磷(P)检出限≤11013atoms/cm3

5.地质年代学研究:铀铅同位素(238U/206Pb)年龄测定误差1Ma

检测范围

1.环境监测样品:土壤沉积物、大气颗粒物、工业废水

2.生物医药材料:血清蛋白组学样本、药物代谢产物

3.食品及农产品:乳制品中微量元素、谷物农药残留

4.工业材料:高温合金成分分析、半导体晶圆掺杂浓度

5.地质矿物标本:锆石U-Pb定年、陨石同位素特征研究

检测方法

ASTMD7439-14《环境样品中金属元素ICP-MS测定》

ISO17294-2:2016《水质-电感耦合等离子体质谱法》

GB/T37847-2019《同位素比值质谱分析方法通则》

GB/T32465-2015《半导体材料中杂质元素的测定》

ISO18516:2006《表面化学分析-辉光放电质谱法》

检测设备

ThermoFisherScientificElementXR:双聚焦磁扇区设计,分辨率≥10,000(10%峰谷)

Agilent8900ICP-MS/MS:三重四极杆技术,MS/MS模式消除多原子干扰

NuInstrumentsNuPlasmaII:多接收器系统,同位素比值精度<0.002%RSD

ShimadzuMALDI-8020:基质辅助激光解吸电离源,质量范围m/z1,000-20,000

PerkinElmerNexION350D:四极杆离子偏转系统,动态线性范围>109

BrukermaXisIIESI-QTOF:电喷雾离子源,质量精度<1ppmRMS

JEOLJMS-T200GC:气相色谱联用系统,EI/CI双电离模式切换

WatersXevoG2-XSQTOF:StepWave离子传输技术,灵敏度提升5倍

LECOPegasusBT4D:全二维气相色谱耦合系统,峰容量>4,000

ElementarIsoprimeprecisION:高真空双进样系统,适用于气体同位素分析

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
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  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
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{{ groups[lb.g].items[lb.i].t }}({{ lb.i+1 }} / {{ groups[lb.g].items.length }})

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