检测项目
1.羟基含量测定：采用热重分析法（TGA）测定Mg(OH)₂纯度（≥98%），误差范围0.5%
2.粒径分布测试：激光粒度仪测定D10/D50/D90值（典型范围1-50μm），跨度指数≤1.8
3.比表面积分析：BET氮吸附法测定20-150m/g范围值
4.晶型结构表征：XRD分析主相为六方晶系（PDF#44-1482），结晶度≥95%
5.杂质元素检测：ICP-OES测定Fe≤0.01%、Ca≤0.05%、Cl⁻≤0.3%
6.灼烧失量测试：900℃恒重法测定LOI（理论值30.90.5%）
检测范围
1.催化剂载体用高纯羟基化镁粉体
2.医药级氢氧化镁片剂及颗粒制剂
3.高分子复合材料用阻燃改性剂
4.电子陶瓷基板原料
5.工业废水处理用吸附材料
6.锂电池隔膜涂层改性材料
检测方法
GB/T6609.5-2004《氢氧化铝化学分析方法》扩展应用于羟基化镁含量测定
ASTMD8098-17《StandardTestMethodforParticleSizeDistributionofRefractoryMaterials》
ISO9277:2010《Determinationofthespecificsurfaceareaofsolidsbygasadsorption》
GB/T6284-2015《化工产品中水分含量的测定》干燥失量法
ASTME1941-10(2016)《StandardTestMethodforDeterminationofCarboninRefractoryandReactiveMetals》
GB/T3045-2017《普通磨料碳化硅化学分析方法》扩展应用于金属杂质检测
检测设备
1.NetzschSTA449F3同步热分析仪：TGA-DSC联用系统（精度0.1μg）
2.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm
3.MicromeriticsASAP2460比表面分析仪：BET法精度1%
4.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：Cu靶Kα辐射（λ=1.5406）
5.PerkinElmerAvio500ICP-OES光谱仪：轴向观测模式（检出限ppb级）
6.MettlerToledoXPR6U超微量天平：分辨率0.1μg
7.MemmertUF260真空干燥箱：控温精度0.5℃
8.ShimadzuEDX-7000X荧光光谱仪：元素分析范围Na-U
9.AgilentCary630FTIR傅里叶红外光谱仪：分辨率4cm⁻
10.MalvernZetasizerNanoZSP电位分析仪：Zeta电位测量范围500mV