微控制器检测概述:检测项目1.电气性能测试:工作电压范围(0.8-5.5V)、静态电流(≤1μA@3V)、I/O端口驱动能力(20mA)2.时钟精度验证:主频偏差(0.5%@25℃)、低功耗模式时钟稳定性(32.768kHz20ppm)3.温度循环测试:工作温度(-40℃~+125℃)、存储温度(-65℃~+150℃)、循环次数(1000次)4.EMC抗扰度测试:ESD接触放电(8kV)、EFT群脉冲(2kV)、辐射抗扰度(10V/m@80MHz-1GHz)5.存储器可靠性:Flash擦写次数(≥10万次)、数据保持年限(
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.电气性能测试:工作电压范围(0.8-5.5V)、静态电流(≤1μA@3V)、I/O端口驱动能力(20mA)
2.时钟精度验证:主频偏差(0.5%@25℃)、低功耗模式时钟稳定性(32.768kHz20ppm)
3.温度循环测试:工作温度(-40℃~+125℃)、存储温度(-65℃~+150℃)、循环次数(1000次)
4.EMC抗扰度测试:ESD接触放电(8kV)、EFT群脉冲(2kV)、辐射抗扰度(10V/m@80MHz-1GHz)
5.存储器可靠性:Flash擦写次数(≥10万次)、数据保持年限(10年@85℃)、ECC纠错能力(单bit纠错/双bit检错)
1.消费电子类:智能家居主控芯片、穿戴设备MCU
2.汽车电子类:ECU控制单元、车载传感器接口MCU
3.工业控制类:PLC可编程逻辑控制器、电机驱动MCU
4.医疗设备类:便携式监护仪MCU、输液泵控制芯片
5.物联网类:低功耗LoRa模组、NB-IoT通信控制器
1.IEC60747-8:半导体器件-集成电路-微控制器分规范
2.GB/T17574-2021:半导体器件集成电路数字集成电路
3.ISO16750-2:2012:道路车辆电气电子设备环境条件
4.ASTMF2592:电子元件温度循环试验标准
5.GB/T17626.4-2018:电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
1.泰克MSO64B示波器:6GHz带宽,25GS/s采样率,支持协议解码
2.是德科技B2902A精密源表:0.1fA分辨率,210V/3A双通道输出
3.ESPECT-242温度冲击箱:-70℃~+180℃转换时间<5秒
4.EMTESTUCS500N6脉冲发生器:6kV组合波发生器
5.福禄克8846A万用表:6位精度,0.002%基本DCV精度
6.R&SCMW500通信综测仪:支持IoT协议栈分析
7.Chroma3380电源负载机:150V/30A可编程动态负载
8.XJTAG边界扫描仪:支持IEEE1149.1/6/7协议验证
9.NIPXIe-4143模块化仪器:7位SMU通道
10.ThermoRamsey振动台:5-3000Hz随机振动谱分析
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与微控制器检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。