检测项目

1.涂层厚度测量：分辨率0.1μm，测量范围0.5-500μm

2.镀层密度分析：精度0.01g/cm，测试压力0.1-50N

3.表面孔隙率检测：孔径测量0.1-100μm，孔隙率计算误差≤1%

4.复合层结合强度：剥离力测试范围1-1000N/m

5.薄膜面密度测定：称量精度0.01mg，面积测量误差0.5mm

检测范围

1.金属镀层（电镀镍层、真空镀铝膜等）

2.高分子薄膜（PET保护膜、PE包装膜等）

3.陶瓷涂层（热障涂层、耐磨陶瓷镀层等）

4.复合材料（碳纤维预浸料、金属层压板等）

5.印刷电路板（铜箔基材、阻焊油墨层等）

检测方法

ASTMB748-90(2016)：射线荧光法测定金属镀层厚度

ISO2178-2016：磁性法测量非磁性基体金属镀层厚度

GB/T16921-2022：X射线衍射法测定晶体材料表面密度

ISO4524-2:2000：金相切片法测量多层镀层结构参数

GB/T4956-2003：涡流法测量非导电基体金属镀层厚度

检测设备

1.梅特勒ME204E电子天平：最大称量220g，可读性0.1mg

2.ThermoScientificNitonXL3tXRF分析仪：元素检测范围Mg-U

3.MitutoyoLitematicVL-50测厚仪：分辨率0.01μm，行程50mm

4.BrukerD8ADVANCEXRD系统：角度重复性0.0001

5.Instron5944万能材料试验机：最大载荷50kN，位移精度1μm

6.KeyenceVHX-7000数码显微镜：光学放大倍率20-6000

7.Elcometer456涂层测厚仪：支持Fe/NFe双模式测量

8.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD平台：配备高温样品台

9.ZeissSigma500扫描电镜：分辨率0.8nm@15kV

10.Agilent5500AFM原子力显微镜：Z轴分辨率0.1nm