检测项目
表面电阻率：测量范围110~110Ω/sq（ASTMD257）
体积电阻率：测试精度5%（IEC62631-3-1）
静电衰减时间：记录50%电荷消散所需时间（ISO18080-2）
电荷半衰期：测定初始电压衰减至50%的时间（GB/T12703.1）
离子污染浓度：钠当量测量精度0.01μg/cm（IPCTM-6502.3.28）
检测范围
半导体封装材料：环氧模塑料、陶瓷基板等
高分子聚合物：PC/ABS合金、抗静电PE薄膜等
医疗器械组件：导管管路系统、手术器械手柄等
电子工业耗材：防静电周转箱、SMT托盘等
航空航天材料：碳纤维复合材料、舱内装饰件等
检测方法
四探针法：依据ASTMD4496测量体电阻率
平行板电极法：执行GB/T1410-2006体积电阻测试
法拉第杯法：采用ISO1853标准测定粉末材料导电性
感应式电荷衰减测试：符合ANSI/ESDSTM11.12规范
离子色谱分析法：参照GB/T33345-2016进行离子残留检测
检测设备
StaticSolutionsModel718表面电阻测试仪：量程110~110⁴Ω
TrekModel152-1静电衰减测试系统：时间分辨率0.1ms
KeysightB2987A高阻计：支持10fA~20mA电流测量
Electro-TechSystemsModel872宽带介电分析仪：频率范围10μHz~20MHz
Desco19270法拉第杯测试套件：符合MIL-STD-883标准
ChargedPlateMonitorCPM-370：电场强度监测精度3%
ThermoScientificDionexICS-6000离子色谱仪：检出限0.1ppb
HIOKIIM3570阻抗分析仪：四端对测量接口配置
ProstatPRS-801摩擦起电机：可调转速0-2000rpm
SimcoIonFX-002电荷消除器校准装置：平衡电压5V以内