吸收突变检测

检测项目

1.吸收系数突变点测定：波长范围200-2500nm，分辨率≤1nm

2.透射率突变阈值分析：测量精度0.5%，重复性误差≤0.3%

3.带隙能量跃迁定位：能量分辨率0.01eV，温度控制0.5℃

4.反射率梯度变化监测：入射角5-80，偏振态S/P分离测量

5.热致吸收偏移测试：温控范围-196℃~300℃，升降温速率0.1-10℃/min

检测范围

1.光学薄膜：防反射膜、滤光片、ITO导电膜等

2.高分子材料：光致变色聚合物、液晶显示基材

3.半导体材料：GaN基LED外延片、钙钛矿光伏材料

4.纳米涂层：量子点涂层、金属有机框架薄膜

5.生物医学材料：光敏药物载体、仿生光学组织

检测方法

ASTME903-20材料太阳吸收比标准测试方法

ISO13468-1:2019塑料透光率测定方法

GB/T26824-2021纳米光学薄膜吸收特性测试规范

ISO9050:2003建筑玻璃光热参数测定标准

GB/T14571.4-2022半导体材料带隙测试规程

检测设备

1.PerkinElmerLambda950UV-Vis-NIR分光光度计：全波长光谱分析（175-3300nm）

2.AgilentCary7000全能型分光光度计：支持绝对反射/透射测量

3.JASCOV-770紫外可见近红外光谱仪：配备积分球附件

4.BrukerVERTEX80v真空型傅里叶红外光谱仪：中远红外波段分析

5.HoribaLabRAMHREvolution显微拉曼光谱仪：空间分辨率达0.5μm

6.OceanInsightFX系列光纤光谱仪：快速响应时间＜5ms

7.LinkamTHMS600变温样品台：-196℃~600℃精确控温

8.NewportOrielSol3A太阳模拟器：AM1.5G光谱匹配度A级

9.KeysightB2902A精密源表：皮安级电流测量精度

10.MalvernPanalyticalEmpyreanX射线衍射仪：薄膜结构相变分析

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"吸收突变检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。