检测项目

1.纯度测定：五溴化钽主含量≥99.5%（ICP-OES法）

2.溴元素含量：理论值78.3%-79.1%（XRF法）

3.金属杂质控制：Fe≤50ppm、Ni≤30ppm（GB/T223.5-2008）

4.热稳定性测试：TG-DSC分析（25-600℃升温速率10℃/min）

5.晶体结构表征：XRD分析（2θ范围10-80，Cu-Kα辐射）

检测范围

1.电子级五溴化钽粉末（粒径D50≤10μm）

2.CVD前驱体材料（纯度≥99.99%）

3.阻燃剂用工业级五溴化钽

4.催化剂载体材料（比表面积≥50m/g）

5.单晶生长原料（氧含量≤200ppm）

检测方法

1.ASTME1479-16电感耦合等离子体发射光谱法测定金属杂质

2.ISO20565-3:2008X射线荧光光谱法测定卤素含量

3.GB/T4325.1-2013钽化合物化学分析方法总则

4.JISK0133:2007X射线衍射定量相分析标准

5.DIN51006:2005热重分析法测定热稳定性

检测设备

1.X射线衍射仪（BrukerD8Advance）：晶体结构分析

2.电感耦合等离子体发射光谱仪（PerkinElmerOptima8300）：痕量元素检测

3.同步热分析仪（NETZSCHSTA449F3）：TG-DSC联用测试

4.X射线荧光光谱仪（ShimadzuEDX-7000）：元素快速筛查

5.激光粒度分析仪（MalvernMastersizer3000）：粒径分布测定

6.比表面分析仪（MicromeriticsASAP2460）：BET法测比表面积

7.扫描电镜（HitachiSU8010）：微观形貌观察

8.离子色谱仪（ThermoScientificDionexICS-600）：阴离子杂质分析

9.紫外可见分光光度计（AgilentCary60）：溶液浓度测定

10.手套箱系统（MBRAUNLABstar）：惰性气氛样品处理