检测项目

1.纯度测定:五溴化钽主含量≥99.5%(ICP-OES法)

2.溴元素含量:理论值78.3%-79.1%(XRF法)

3.金属杂质控制:Fe≤50ppm、Ni≤30ppm(GB/T223.5-2008)

4.热稳定性测试:TG-DSC分析(25-600℃升温速率10℃/min)

5.晶体结构表征:XRD分析(2θ范围10-80,Cu-Kα辐射)

检测范围

1.电子级五溴化钽粉末(粒径D50≤10μm)

2.CVD前驱体材料(纯度≥99.99%)

3.阻燃剂用工业级五溴化钽

4.催化剂载体材料(比表面积≥50m/g)

5.单晶生长原料(氧含量≤200ppm)

检测方法

1.ASTME1479-16电感耦合等离子体发射光谱法测定金属杂质

2.ISO20565-3:2008X射线荧光光谱法测定卤素含量

3.GB/T4325.1-2013钽化合物化学分析方法总则

4.JISK0133:2007X射线衍射定量相分析标准

5.DIN51006:2005热重分析法测定热稳定性

检测设备

1.X射线衍射仪(BrukerD8Advance):晶体结构分析

2.电感耦合等离子体发射光谱仪(PerkinElmerOptima8300):痕量元素检测

3.同步热分析仪(NETZSCHSTA449F3):TG-DSC联用测试

4.X射线荧光光谱仪(ShimadzuEDX-7000):元素快速筛查

5.激光粒度分析仪(MalvernMastersizer3000):粒径分布测定

6.比表面分析仪(MicromeriticsASAP2460):BET法测比表面积

7.扫描电镜(HitachiSU8010):微观形貌观察

8.离子色谱仪(ThermoScientificDionexICS-600):阴离子杂质分析

9.紫外可见分光光度计(AgilentCary60):溶液浓度测定

10.手套箱系统(MBRAUNLABstar):惰性气氛样品处理