检测项目

1.铪元素含量测定：采用ICP-MS法测定HfO₂含量范围0.01%-15%，检测限0.01ppm

2.伴生锆元素分析：XRF法测定Zr/Hf比值精度0.05%，浓度范围0.1-50wt%

3.稀土元素配分模式：LA-ICP-MS测定15种REE元素含量（0.1-500ppm）

4.矿物相鉴定：XRD分析晶型结构（2θ范围5-90），检出限1wt%

5.放射性元素筛查：γ能谱法测定U/Th含量（0.1-1000Bq/kg）

检测范围

1.锆石类矿物：包括普通锆石、高铪锆石（HfO₂＞5%）等

2.铪合金材料：核级铪合金（Hf≥98%）、高温合金等

3.尾矿及冶炼渣：含铪工业废料（HfO₂≥0.1%）

4.地质勘探样品：基岩、土壤中铪异常区样本

5.陶瓷原料：氧化铪基特种陶瓷前驱体材料

检测方法

ASTMD5381-23《波长色散X射线荧光光谱法测定催化剂中锆和铪》

ISO21587-3:2023《硅酸盐材料化学分析-电感耦合等离子体发射光谱法》

GB/T33087-2016《仪器中子活化分析法测定多元素含量》

GB/T17417.2-2020《稀土矿石化学分析方法-等离子体质谱法》

ISO18558:2024《核级铪及铪合金化学分析通用要求》

检测设备

ThermoScientificARLPERFORM'XX射线荧光光谱仪：波长色散型，Rh靶材，可测Be-U元素

PerkinElmerNexION350DICP-MS：四级杆质谱仪，检出限达ppt级

BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：CuKα辐射源，配备LYNXEYEXE探测器

ORTECHPGeGMX系列高纯锗γ谱仪：相对效率≥40%，能量分辨率＜1.9keV

MalvernPanalyticalAxiosMAXXRF熔样机：铂金坩埚自动熔融系统

Agilent7900ICP-OES：双向观测系统，波长范围167-785nm

ShimadzuEDX-8000能量色散X荧光光谱仪：硅漂移探测器（SDD）

CETACLSX-213激光剥蚀系统：波长213nm，束斑直径2-200μm可调