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概述:检测项目1.粒径分布分析:测量D10/D50/D90值及多分散指数(PDI),范围1nm-10μm。2.表面电荷测定:通过Zeta电位评估颗粒稳定性(200mV量程)。3.形貌表征:扫描电镜(SEM)分辨率≤1nm,透射电镜(TEM)分辨率≤0.2nm。4.元素组成分析:EDS能谱检测精度0.1wt%,XPS结合能误差0.3eV。5.热稳定性测试:TGA热重分析温度范围25-1000℃,升温速率0.1-100℃/min。检测范围1.纳米材料:金属/氧化物纳米颗粒(如Au、TiO₂)、量子点。2.生物医药制
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1.粒径分布分析:测量D10/D50/D90值及多分散指数(PDI),范围1nm-10μm。
2.表面电荷测定:通过Zeta电位评估颗粒稳定性(200mV量程)。
3.形貌表征:扫描电镜(SEM)分辨率≤1nm,透射电镜(TEM)分辨率≤0.2nm。
4.元素组成分析:EDS能谱检测精度0.1wt%,XPS结合能误差0.3eV。
5.热稳定性测试:TGA热重分析温度范围25-1000℃,升温速率0.1-100℃/min。
1.纳米材料:金属/氧化物纳米颗粒(如Au、TiO₂)、量子点。
2.生物医药制剂:脂质体、蛋白质聚集体、疫苗佐剂。
3.高分子材料:聚合物胶束、微球载体(PLGA/PEG体系)。
4.环境颗粒物:PM2.5/PM10气溶胶、工业粉尘。
5.能源材料:锂离子电池电极材料、燃料电池催化剂颗粒。
1.ASTME2490-22《激光衍射法测定粒度分布标准指南》
2.ISO22412:2017《动态光散射法测量纳米颗粒粒径》
3.GB/T19077-2016《粒度分析激光衍射法》
4.ISO13099-2012《胶体体系Zeta电位测定方法》
5.GB/T23413-2009《纳米材料粒度分布测定X射线离心沉降法》
1.MalvernZetasizerNanoZS:动态光散射仪(DLS),支持粒径与Zeta电位同步测量。
2.BeckmanCoulterLS13320XR:激光衍射粒度仪(0.04-2000μm量程)。
3.HitachiSU8200冷场发射扫描电镜:1nm分辨率配牛津X-MaxN150EDS探测器。
4.TAInstrumentsQ600SDT:同步热分析仪(TGA/DSC联用)。
5.MicromeriticsTriStarII3020:比表面积及孔隙度分析仪(BET法)。
6.HoribaSZ-100纳米颗粒分析仪:结合动态/静态光散射技术。
7.BrukerDimensionIcon原子力显微镜(AFM):峰值力轻敲模式。
8.ThermoScientificK-AlphaX射线光电子能谱仪(XPS):单色AlKα光源。
9.JEOLJEM-2100F场发射透射电镜:点分辨率0.19nm。
10.WyattTechnologyDawnHeleosII多角度激光光散射仪(MALLS)。
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"定域粒子系集检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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