检测项目

1.粒径分布分析：测量D10/D50/D90值及多分散指数（PDI），范围1nm-10μm。

2.表面电荷测定：通过Zeta电位评估颗粒稳定性（200mV量程）。

3.形貌表征：扫描电镜（SEM）分辨率≤1nm，透射电镜（TEM）分辨率≤0.2nm。

4.元素组成分析：EDS能谱检测精度0.1wt%，XPS结合能误差0.3eV。

5.热稳定性测试：TGA热重分析温度范围25-1000℃，升温速率0.1-100℃/min。

检测范围

1.纳米材料：金属/氧化物纳米颗粒（如Au、TiO₂）、量子点。

2.生物医药制剂：脂质体、蛋白质聚集体、疫苗佐剂。

3.高分子材料：聚合物胶束、微球载体（PLGA/PEG体系）。

4.环境颗粒物：PM2.5/PM10气溶胶、工业粉尘。

5.能源材料：锂离子电池电极材料、燃料电池催化剂颗粒。

检测方法

1.ASTME2490-22《激光衍射法测定粒度分布标准指南》

2.ISO22412:2017《动态光散射法测量纳米颗粒粒径》

3.GB/T19077-2016《粒度分析激光衍射法》

4.ISO13099-2012《胶体体系Zeta电位测定方法》

5.GB/T23413-2009《纳米材料粒度分布测定X射线离心沉降法》

检测设备

1.MalvernZetasizerNanoZS：动态光散射仪（DLS），支持粒径与Zeta电位同步测量。

2.BeckmanCoulterLS13320XR：激光衍射粒度仪（0.04-2000μm量程）。

3.HitachiSU8200冷场发射扫描电镜：1nm分辨率配牛津X-MaxN150EDS探测器。

4.TAInstrumentsQ600SDT：同步热分析仪（TGA/DSC联用）。

5.MicromeriticsTriStarII3020：比表面积及孔隙度分析仪（BET法）。

6.HoribaSZ-100纳米颗粒分析仪：结合动态/静态光散射技术。

7.BrukerDimensionIcon原子力显微镜（AFM）：峰值力轻敲模式。

8.ThermoScientificK-AlphaX射线光电子能谱仪（XPS）：单色AlKα光源。

9.JEOLJEM-2100F场发射透射电镜：点分辨率0.19nm。

10.WyattTechnologyDawnHeleosII多角度激光光散射仪（MALLS）。