横向浓度梯度检测

检测项目

1.横向厚度偏差：分辨率0.1μm级三维形貌重建

2.元素分布均匀性：X射线能谱面扫描（EDSMapping）精度0.5wt%

3.化合物相态梯度：微区XRD衍射分析（10μm步进）

4.界面扩散系数：二次离子质谱（SIMS）深度分辨率3nm

5.热影响区浓度衰减：激光诱导击穿光谱（LIBS）空间分辨率50μm

6.表面能梯度分布：接触角测量仪（0.1精度）多点位测定

检测范围

1.金属镀层：电镀/化学镀镍层、锌铝镁合金镀层

2.高分子薄膜：光伏背板阻隔膜、锂电池隔膜涂层

3.半导体材料：晶圆掺杂层、OLED发光功能层

4.涂层材料：热障涂层(TBC)、防腐底漆/面漆体系

5.生物医学材料：药物洗脱支架涂层、骨植入物表面处理层

检测方法

ASTMB568-18采用X射线荧光法测定镀层厚度梯度

ISO3497:2020金属涂层成分分布的电子探针微区分析

GB/T17359-2023微束分析能谱法定量分析通则

ASTME3061-17LIBS技术元素分布测量标准指南

GB/T40109-2021表面化学分析二次离子质谱深度剖析方法

ISO19830:2015微区X射线衍射相分布分析方法

检测设备

1.BrukerD8ADVANCEXRD：配备LYNXEYEXE探测器，实现10μm步进微区衍射分析

2.ThermoFisherScios2DualBeamFIB-SEM：集成EDS/EBSD系统，三维成分重构精度0.3nm

3.ShimadzuEPMA-8050G电子探针：波长色散谱仪（WDS）元素定量精度0.01%

4.HORIBALabRAMHREvolutionRaman：共聚焦拉曼成像系统（532/785nm双激光源）

5.ZeissCrossbeam550FIB-SEM：配备ToF-SIMS附件，实现三维化学成像

6.OxfordInstrumentsAztecLiveUltimMax170EDS：大面积硅漂移探测器（SDD），面扫描速率1000cps

7.KeyenceVK-X3000激光显微镜：405nm波长激光光源，Z轴分辨率0.01nm

8.BrukerContourGT-K光学轮廓仪：白光干涉技术实现0.1垂直分辨率测量

9.HitachiEA1400XRF镀层测厚仪：多毛细管光学系统实现50μm微区分析

10.Agilent8900ICP-MS/MS：MS/MS模式消除质谱干扰，检出限达ppt级

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"横向浓度梯度检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。