检测项目

1.粒径分布测定：测量D10/D50/D90特征值及全区间分布曲线

2.比表面积分析：采用BET法测定3-5000m/g范围的比表面积

3.颗粒形貌观测：通过SEM电镜进行0.1μm-1mm颗粒的形态学表征

4.堆积密度测试：测定振实密度（0.1-3g/cm）与松装密度

5.Zeta电位分析：测量纳米颗粒在-200mV至+200mV范围的表面电位

检测范围

1.金属粉末：钛粉、铝粉等增材制造原料（1-150μm）

2.陶瓷原料：氧化铝、碳化硅等研磨粉体（0.5-100μm）

3.制药辅料：乳糖、微晶纤维素（10-500μm）

4.电池材料：正负极材料（5-50μm）及导电剂（20-200nm）

5.环境样品：大气颗粒物PM2.5/PM10及土壤沉积物（0.1-2000μm）

检测方法

ASTMB822-20金属粉末粒度分布的激光衍射法测定

ISO13320:2020粒度分析-激光衍射法通用要求

GB/T19077-2016粒度分布-激光衍射法

GB/T5162-2021金属粉末振实密度测定方法

ISO9277:2010BET法测定固态物质比表面积

检测设备

马尔文Mastersizer3000：激光衍射仪，测量范围0.01-3500μm

贝克曼库尔特LS13320：湿法/干法两用粒度仪（0.04-2000μm）

麦克TriStarII3020：全自动比表面及孔隙度分析仪

日立SU5000：场发射扫描电镜（1nm分辨率）

安东帕PSA1190：动态光散射纳米粒度仪（0.3nm-10μm）

新帕科PowderProA1：振实密度仪（量程0-500mL）

布鲁克D8ADVANCE：X射线衍射仪（晶粒尺寸分析）

岛津SALD-7500nano：纳米粒度分析系统（0.5nm-800μm）