检测项目

1.半高宽（FWHM）：测量光谱强度下降至峰值50%时的波长跨度

2.线宽稳定性：连续监测30分钟内谱线宽度波动值（0.02nm）

3.边模抑制比（SMSR）：主模与相邻边模强度比值（≥40dB）

4.峰值波长偏移量：温度循环测试中波长偏移量（0.1nm@-40~85℃）

5.洛伦兹/高斯拟合度：评估谱线形状与理论模型的匹配度（R≥0.98）

检测范围

1.激光二极管（LD）与垂直腔面发射激光器（VCSEL）

2.光纤布拉格光栅（FBG）与分布式反馈激光器（DFB）

3.光学镀膜材料（AR/HRcoatings）透过率曲线

4.荧光材料发射光谱特性分析

5.半导体外延片光致发光（PL）谱线

检测方法

ASTME388-04：光谱带宽和波长准确度测试标准

ISO11151-1：激光器线宽测试规范

GB/T13301-2017：激光产品光谱特性测量方法

IEC61280-2-9：光纤通信子系统光谱分析规程

GB/T32213-2015：光学薄膜光谱特性测试导则

检测设备

1.YokogawaAQ6370D光谱分析仪：0.02nm分辨率，600-1700nm波长范围

2.Agilent86100D示波器+86122C光模块：80GHz带宽光信号分析

3.Bristol721A波长计：0.2pm绝对精度波长测量

4.ThorlabsSA201干涉仪：1MHz~10GHz线宽测量范围

5.OceanInsightHR4000高分辨光谱仪：0.075nmFWHM光学分辨率

6.KeysightN7714A可调谐激光源：1pm波长调谐精度

7.Newport2936-R光功率计：-90dBm~+20dBm动态范围

8.BrukerVERTEX80v傅里叶红外光谱仪：0.06cm⁻分辨率

9.AndoAQ6317B光谱分析仪：1510-1630nm通信波段专用设备

10.RIGOLDSA800系列频谱分析仪：9kHz~7.5GHz射频信号分析