


概述:检测项目1.二氧化硅含量测定:纯度≥99.8%,灼烧减量≤0.5%(GB/T20020-2013)2.粒径分布分析:D50值10-50nm范围控制(ISO13320-1:2020)3.比表面积测试:BET法测定150-400m/g(ASTMD1993-03(2018))4.pH值检测:水分散液pH3.5-8.5(USP<643>标准)5.重金属残留:铅≤5ppm、砷≤3ppm(GB31604.49-2023)检测范围1.药用级胶态硅石:片剂包衣材料、胶囊防粘剂2.食品添加剂:乳制品抗结块剂、粉
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人委托除外)。
因篇幅原因,CMA/CNAS/ISO证书以及未列出的项目/样品,请咨询在线工程师。
1.二氧化硅含量测定:纯度≥99.8%,灼烧减量≤0.5%(GB/T20020-2013)
2.粒径分布分析:D50值10-50nm范围控制(ISO13320-1:2020)
3.比表面积测试:BET法测定150-400m/g(ASTMD1993-03(2018))
4.pH值检测:水分散液pH3.5-8.5(USP<643>标准)
5.重金属残留:铅≤5ppm、砷≤3ppm(GB31604.49-2023)
1.药用级胶态硅石:片剂包衣材料、胶囊防粘剂
2.食品添加剂:乳制品抗结块剂、粉末油脂流动助剂
3.工业涂料:水性涂料增稠剂、防腐涂层填料
4.电子封装材料:半导体封装用高纯硅胶
5.化妆品原料:防晒霜紫外线散射剂
1.X射线荧光光谱法(GB/T20020-2013)测定SiO₂含量
2.激光衍射法(ISO13320-1:2020)分析粒径分布
3.氮吸附BET法(ASTMD1993-03(2018))测试比表面积
4.ICP-MS法(GB31604.49-2023)检测重金属残留
5.Zeta电位测定法(ISO13099-1:2012)评估分散稳定性
1.RigakuZSXPrimusIVX射线荧光光谱仪:元素定量分析
2.MalvernMastersizer3000激光粒度仪:纳米级粒径测量
3.MicromeriticsASAP2460比表面分析仪:BET比表面积测定
4.Metrohm905Titrando自动电位滴定仪:pH值精确测量
5.PerkinElmerNexION350DICP-MS:痕量重金属检测
6.HoribaSZ-100Z纳米电位分析仪:Zeta电位测试
7.MettlerToledoTGA/DSC同步热分析仪:热稳定性评估
8.AgilentCary630FTIR傅里叶红外光谱仪:官能团鉴定
9.BrookfieldDV2T粘度计:流变特性测试
10.LeicaDM2700M偏光显微镜:微观形貌
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"胶态硅石检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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