半导体限量测试

半导体限量测试聚焦半导体材料、器件及相关工艺中的受限物质与微量成分控制,通过对元素含量、离子残留、有机污染物及工艺残留进行定量分析,评估产品洁净度、材料一致性与使用适配性,为质量控制、制程管理及风险识别提供数据依据。

原创阅读 642026-03-24工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

1.重金属元素限量:铅含量,镉含量,汞含量,六价铬含量,砷含量。

2.卤素物质限量:氯含量,溴含量,总卤素含量,可萃取氯离子,可萃取溴离子。

3.有害元素筛查:锑含量,铍含量,硒含量,钡含量,镍含量。

4.离子污染检测:氟离子残留,氯离子残留,硝酸根残留,硫酸根残留,铵根残留。

5.有机污染物限量:邻苯二甲酸酯总量,多环芳烃总量,有机锡含量,酚类残留,挥发性有机物残留。

6.金属杂质分析:铁杂质含量,铜杂质含量,钠杂质含量,钾杂质含量,铝杂质含量。

7.表面残留物检测:助焊残留,清洗剂残留,油污残留,颗粒污染,碳氢化合物残留。

8.气体杂质限量:氧含量,水分含量,氮氧化物痕量,硫化物痕量,烃类杂质含量。

9.材料纯度测试:硅材料纯度,金属靶材纯度,化学试剂纯度,封装材料纯度,特种气体纯度。

10.封装材料限量:塑封料中重金属,键合材料杂质,基板材料卤素,灌封材料挥发物,粘接材料残留单体。

11.工艺化学品残留:酸性残留,碱性残留,蚀刻液残留,显影液残留,剥离液残留。

12.微量水分检测:固体材料水分,液体试剂水分,气体水分,封装内部水汽,表面吸附水分。

检测范围

硅片、外延片、光刻胶、电子特气、湿电子化学品、靶材、引线框架、封装基板、塑封料、键合丝、焊球、导电胶、绝缘胶、芯片成品、晶圆级封装样品、清洗液、蚀刻液、显影液

检测设备

1.电感耦合等离子体发射光谱仪:用于测定材料中多种金属元素含量,适合痕量与常量元素分析。

2.电感耦合等离子体质谱仪:用于超痕量金属杂质定量,适合高纯材料与化学品检测。

3.离子色谱仪:用于分析阴离子和阳离子残留,可评估表面离子污染水平。

4.气相色谱仪:用于挥发性有机物与残留溶剂分析,适合有机污染物限量检测。

5.液相色谱仪:用于分离测定非挥发性有机物,适合添加剂与残留物分析。

6.原子吸收光谱仪:用于部分金属元素定量测定,适合常见有害元素分析。

7.紫外可见分光光度计:用于特定离子或化合物含量测定,可进行快速比色分析。

8.傅里叶变换红外光谱仪:用于材料成分识别与有机官能团分析,辅助判断有机残留类型。

9.热脱附分析仪:用于释放并检测样品中的挥发性残留物,适合洁净度与污染评估。

10.微量水分测定仪:用于测定固体、液体及气体中的痕量水分,适合高纯介质控制。

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

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