检测项目
1. 表面粗糙度Ra(0.001~10 μm)
2. 最大轮廓高度Rz(0.01~50 μm)
3. 端面平整度PV(≤0.05 μm)
4. 平均粗糙度Rq(0.001~5 μm)
5. 端面角度偏差(≤0.1°)
检测范围
1. 单模光纤：G.652D常规单模光纤
2. 多模光纤：OM3/OM4 50/125μm多模光纤
3. 特种光纤：保偏光纤PM1550
4. 光纤预制棒：MCVD预制棒
5. 光纤跳线：LC/UPC跳线端面
检测方法
1. GB/T 15972.20-2021 光纤试验方法规范 第20部分：尺寸参数的测量方法和试验程序
2. IEC 60793-1-20:2014 光纤 第1-20部分：测量方法和试验程序 纤维包层直径
3. ASTM F218-2019 光纤表面粗糙度测量方法
4. GB/T 3505-2009 产品几何技术规范 表面结构 轮廓法 术语、定义及表面结构参数
5. ISO 4287:1997 产品几何技术规范 表面结构 轮廓法 表面结构的术语、定义及参数
检测设备
1. 原子力显微镜(NanoScope V)：纵向分辨率0.1 nm，横向0.2 nm
2. 白光干涉仪(NewView 9000)：纵向分辨率0.1 nm
3. 表面粗糙度仪(SJ-410)：量程0.001~350 μm
4. 光纤端面干涉仪(FIS-RPT)：测量精度0.01 μm
5. 激光共聚焦显微镜(LEXT OLS5000)：分辨率0.12 μm
6. 光学显微镜(BX53M)：放大倍数50×~1000×
7. 精密旋转台(RS-100)：分辨率0.001°
8. 恒温恒湿箱(LRHS-225)：温度-40~150℃
9. 电子天平(ME204T)：量程220g，精度0.1mg