芯片过滤检测

芯片过滤检测针对半导体芯片制造过程中的过滤系统与过滤介质性能进行系统评价,采用颗粒计数法、气泡点试验及流速测定等方法,评估过滤器对微粒杂质的截留效率与流体通过能力。核心项目包括颗粒截留效率、过滤器完整性、流速压降特性及使用寿命测试,适用于光刻胶过滤、化学机械抛光液过滤、超纯水过滤及工艺气体过滤等芯片制造关键环节的质量控制。

原创阅读 732026-06-14工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

1. 颗粒截留效率:0.1μm颗粒截留率≥99.99%,0.05μm颗粒截留率≥95%

2. 气泡点压力:测定过滤器最大孔径,气泡点压力≥0.35MPa(0.1μm膜)

3. 流速测试:纯水流速≥100mL/min·cm²,压降≤0.1MPa@10L/min

4. 完整性测试:扩散流试验、水侵入试验,扩散流≤15mL/min

5. 使用寿命:容尘量测定,累积过滤体积≥1000L@0.2μm颗粒负荷

检测范围

1. 光刻胶过滤器:0.05-0.2μm PTFE膜过滤器,用于光刻胶除颗粒

2. CMP浆料过滤器:0.1-0.5μm尼龙/PP过滤器,抛光液过滤

3. 超纯水过滤器:0.05-0.1μm PVDF膜过滤器,UPW终端过滤

4. 工艺气体过滤器:0.003-0.01μm HEPA/ULPA过滤器,洁净气体过滤

5. 化学品过滤器:0.1-0.2μm PTFE/PE过滤器,湿法化学品过滤

检测方法

1. ISO 11170:2003 液压滤芯 多次通过试验方法

2. ASTM F838-15 液体过滤器细菌截留试验方法

3. GB/T 6165-2008 高效空气过滤器性能试验方法

4. IEST-RP-CC021.3 过滤器完整性测试方法

5. SEMI F38-1101 半导体工艺液体过滤器测试方法

检测设备

1. 颗粒计数器(PMS LiQuilaz S02):粒径范围0.1-100μm,计数浓度0-30000颗/mL

2. 气泡点测试仪(Sartorius Sartocheck 4):压力范围0-1MPa,精度±0.5%

3. 完整性测试仪(Palltronic Flowstar IV):扩散流、水侵入多种模式

4. 流量计(Brooks 5881):量程0-100L/min,精度±1%

5. 压差变送器(Rosemount 3051S):量程0-1MPa,精度±0.075%

6. 激光粒度仪(Malvern Mastersizer 3000):粒径范围0.01-3500μm

7. 超纯水电阻率仪(Mettler Toledo Thornton 770):量程0-18.2MΩ·cm

8. 洁净工作台(ESCO Labculture):ISO Class 5洁净环境,风速0.3-0.5m/s

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

QUALIFICATIONS

旗下实验室 · 资质荣誉

CMA / CNAS / ISO 资质齐全,荣誉证书点击可查看大图

{{ groups[lb.g].items[lb.i].t }}({{ lb.i+1 }} / {{ groups[lb.g].items.length }})

具体资质详情请联系工程师

北京实验室 济南实验室 聊城实验室 深圳实验室

热门检测专题