检测项目
1. 修饰层厚度测定(范围0.1~50 nm，精度±0.1 nm)
2. 表面包覆率(grafting density: 0.1~5 chains/nm²，精度±2%)
3. 表面官能团定量(XPS/FTIR分析，精度±5%)
4. 分散稳定性评估(Zeta电位绝对值>30 mV为稳定)
5. 修饰前后粒径变化(DLS法，精度±1 nm)
检测范围
1. 金属纳米颗粒：金纳米粒子-PPEG修饰(核径5~50 nm)
2. 磁性纳米颗粒：Fe3O4-SiO2核壳结构修饰(核径10~50 nm)
3. 半导体量子点：CdSe/ZnS PEG修饰(粒径2~10 nm)
4. 碳基纳米材料：氧化石墨烯(GO)、碳纳米管(CNT)表面功能化
5. 二维纳米材料：MoS2、MXene表面有机分子修饰
检测方法
1. GB/T 39118-2020 纳米技术 纳米材料表面化学分析方法
2. ISO/TR 18197:2016 纳米技术 纳米材料表面修饰表征指南
3. GB/T 30984.2-2017 太阳能用玻璃 第2部分：透明导电氧化物膜
4. GB/T 36326-2018 透射电子显微镜分析方法通则
5. ASTM E2857-21 标准指南 数据采集和报告
检测设备
1. X射线光电子能谱仪(Thermo ESCALAB 250Xi)：能量分辨率0.45 eV，分析区域500 μm
2. 傅里叶红外光谱仪(Thermo Nicolet iS50)：光谱范围7800~350 cm⁻¹，分辨率0.09 cm⁻¹
3. 透射电子显微镜(FEI Titan Themis 300)：点分辨率0.08 nm，加速电压80~300 kV
4. 纳米粒度及Zeta电位分析仪(Malvern Zetasizer Ultra)：粒径0.3 nm~10 μm
5. 原子力显微镜(Bruker Dimension Icon)：扫描范围90×90 μm，垂直分辨率0.03 nm
6. 热重分析仪(NETZSCH TG 209 F3)：温度范围RT~1000℃，天平灵敏度0.1 μg
7. Raman光谱仪(Horiba LabRAM HR Evolution)：光谱范围50~8000 cm⁻¹，分辨率0.3 cm⁻¹
8. 超速冷冻离心机(Beckman Coulter Optima XPN-100)：最大转速100000 rpm，最大离心力802400 g