


1.纯度检测:X射线荧光光谱法(XRF)测定金含量(99.0%-99.99%),误差范围0.3%
2.密度测试:阿基米德法测量密度值(理论值19.3g/cm),允许偏差0.5g/cm
3.硬度测试:维氏硬度计测量HV值(纯金25-40HV),镀层产品需标注测试载荷
4.尺寸公差:数显卡尺测量厚度/直径(0.05mm),特殊造型件执行GB/T18043规定
5.表面质量:10倍放大镜观察划痕/砂眼缺陷(≤3处/平方厘米)
1.投资金条:500g/1000g标准锭及定制规格产品
2.首饰制品:项链/戒指/手镯等足金999以上品类
3.工业用金:半导体键合线(直径0.015-0.050mm)
4.纪念币章:央行发行贵金属纪念币及衍生品
5.电子废料:含金元器件(PCB板/触点/引脚)回收料
1.ASTMB562-20《标准火试金法测定金锭化学组成》
2.ISO11426:2022《首饰-X射线荧光光谱法测定贵金属含量》
3.GB/T18043-2013《首饰贵金属含量的测定X射线荧光光谱法》
4.GB/T17363.2-2009《黄金制品金含量无损测定方法第2部分:综合分析法》
5.ISO8654:2018《首饰-贵金属合金颜色及电镀层测定》
1.ThermoFisherNitonXL3tXRF分析仪:无损纯度检测(检出限0.1%)
2.SartoriusCPA225D电子天平:称量精度0.01mg(密度测试专用)
3.StruersDuramin-40硬度计:载荷范围10-1000gf(维氏/努氏双模式)
4.MitutoyoABSOLUTE500-196-20数显卡尺:分辨率0.001mm(IP67防护等级)
5.LeicaDM2700M金相显微镜:50-1000倍表面形貌分析系统
6.HeraeusELEMENTS直读光谱仪:火试金法配套设备(精度0.02%)
7.ShimadzuEDX-8000能量色散光谱仪:薄膜镀层厚度测量(0.1-50μm)
8.MemmertUF260恒温干燥箱:样品预处理温度控制(室温-300℃)
9.Elcometer456超声波测厚仪:空心饰品壁厚测量(分辨率1μm)
10.BrukerD8ADVANCEXRD衍射仪:晶体结构分析(物相鉴定)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"足金检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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