检测项目

1.结构参数分析：层间距（0.34-0.39nm）、外径（1.5-20nm）、长度分布（100nm-50μm）

2.纯度检测：碳含量（≥95wt%）、金属催化剂残留量（Fe/Ni/Co≤500ppm）

3.热稳定性测试：热分解温度（≥600℃）、氧化起始温度（TGA法）

4.电学性能：室温电导率（10-10⁵S/cm）、载流子迁移率（≥10⁴cm/(Vs)）

5.力学性能：杨氏模量（0.5-1TPa）、抗拉强度（50-200GPa）

检测范围

1.纳米复合材料中的双壁碳纳米管增强相

2.半导体器件用高纯度双壁碳纳米管薄膜

3.生物医学传感器用功能化双壁碳纳米管

4.锂离子电池电极材料中的双壁碳纳米管导电剂

5.航空航天用耐高温双壁碳纳米管基高分子材料

检测方法

ASTME2857-19：热重分析法测定碳纳米材料热稳定性

ISO/TS21346:2021：拉曼光谱法表征碳纳米管结构缺陷度

GB/T30445-2013：透射电子显微镜法测量纳米管径分布

ISO29794:2020：X射线光电子能谱法分析表面官能团含量

GB/T33818-2017：四探针法测定薄膜电导率标准程序

检测设备

1.HoribaLabRAMHREvolution：高分辨拉曼光谱仪（532/633nm激光源）

2.JEOLJEM-ARM200F：球差校正透射电镜（0.08nm分辨率）

3.PerkinElmerTGA8000：热重分析仪（0.1μg灵敏度）

4.KeysightB1500A：半导体参数分析仪（10fA-1A电流范围）

5.BrukerDimensionIcon：原子力显微镜（峰值力轻敲模式）

6.MalvernZetasizerNanoZS90：动态光散射粒径分析仪

7.ThermoScientificK-Alpha+：X射线光电子能谱仪（微聚焦单色化光源）

8.Agilent7900ICP-MS：电感耦合等离子体质谱仪（ppq级检出限）

9.FourPointProbesRM3000+：四探针电阻率测试系统（自动温控模块）

10.NetzschLFA467HyperFlash：激光闪射法导热系数测定仪（-125~1100℃）