检测项目

触发电压与电流：阈值范围0.8-3.0V，触发电流5-50mA

通态平均电流（IT(AV)）：测试范围10A-3000A，误差±1.5%

反向重复峰值电压（VRRM）：检测范围100V-6000V，漏电流≤10μA

关断时间（tq）：测量范围10μs-200μs，分辨率0.1μs

热阻（Rth）：结到外壳热阻≤1.5℃/W，瞬态热阻抗测试

检测范围

工业变频器用可控硅模块

高压直流输电系统换流阀组件

轨道交通牵引变流器晶闸管单元

新能源逆变器功率半导体组件

消费电子调光/调速装置可控硅器件

检测方法

触发特性测试：ASTM F1262M，GB/T 15291-2013

通态压降测量：IEC 60747-6，GB/T 4023-2015

反向耐压试验：IEC 60747-2，GB/T 4937-2012

动态参数检测：ISO 21309，GB/T 16898-2017

热特性分析：JEDEC JESD51，GB/T 2423.22-2012

检测设备

Keysight DSOX1204G示波器：4通道，200MHz带宽，触发特性波形捕获

Chroma 19032功率循环测试系统：3000A电流输出，通态参数测量

FLUKE 1550C高压绝缘测试仪：10kV DC输出，反向耐压漏电流检测

Tektronix DPO7054数字荧光示波器：5GHz采样率，动态关断时间分析

FLIR T1020热成像仪：1024×768分辨率，热阻分布成像测试