检测项目

纯度检测：主成分Gd₂O₃含量≥99.9%，其他稀土氧化物总量≤0.1%

粒径分布：D50值1-5μm，D90≤10μm（激光散射法）

晶型结构：立方相（C型）占比≥98%（XRD分析）

杂质元素：Fe≤50ppm，Si≤30ppm，Ca≤20ppm（ICP-OES检测）

密度测试：理论密度7.407g/cm³，实测偏差≤±0.5%

检测范围

高纯二氧化二钆粉末（4N级及以上）

核反应堆中子吸收材料

荧光粉基质材料

磁致冷合金前驱体

电子陶瓷介质材料

检测方法

化学纯度检测：GB/T 18115.12-2020《稀土氧化物化学分析方法》

X射线衍射分析：ISO 20203:2005《X射线衍射定量相分析》

激光粒度分析：ASTM B822-17《金属粉末粒度分布标准测试方法》

电感耦合等离子体发射光谱：GB/T 20975.25-2020《铝及铝合金化学分析方法》

比表面积测定：GB/T 19587-2017《气体吸附BET法测定固态物质比表面积》

检测设备

X射线衍射仪：Rigaku SmartLab，配备高温附件（25-1600℃）

电感耦合等离子体光谱仪：PerkinElmer Optima 8300，检测限0.01ppm

激光粒度分析仪：Malvern Mastersizer 3000，测量范围0.01-3500μm

同步热分析仪：NETZSCH STA 449 F5，TG-DSC联用系统

场发射扫描电镜：Hitachi SU5000，分辨率1.0nm@15kV