检测项目
磁导率检测：测量频率范围1 kHz-1 MHz，精度±0.5%
矫顽力测试：磁场强度0-2000 A/m，分辨率1 A/m
剩磁强度分析：量程0.1 mT-2 T，误差≤±1.5%
磁滞损耗测定：温度范围-50℃-150℃，重复性误差≤2%
温度稳定性测试：循环次数100次（-40℃至150℃）
检测范围
软磁合金材料（如硅钢、坡莫合金）
铁氧体磁芯及薄膜器件
非晶/纳米晶磁线材料
磁记录介质（硬盘、磁带存储层）
电磁屏蔽用磁性复合材料
检测方法
ASTM A912：软磁材料直流磁性能测试标准
ISO 3919：磁性材料交流损耗测定方法
GB/T 3655-2008：软磁金属材料矫顽力测量规范
GB/T 13888-2009：磁性材料磁滞回线测试方法
IEC 60404-6：材料高温磁性能测试标准
检测设备
Lake Shore 475型数字高斯计：磁场强度测量（0.01 mT-3 T）
Quantum Design PPMS综合物性测量系统：低温强场磁性能分析
Agilent 4294A阻抗分析仪：高频磁导率测试（40 Hz-110 MHz）
Magnetic Instrumentation 7000系列磁滞回线测试仪：自动绘制B-H曲线
ESPEC T-242温度试验箱：温度循环测试（-70℃-180℃）
Bruker D8 Advance X射线衍射仪：材料晶体结构分析
Shimadzu AGS-X振动测试系统：机械冲击/振动可靠性检测