检测项目

磁化率测定：测量范围-10⁻⁶至10⁻⁸ SI单位，精度±0.5%

磁场强度响应：测试范围0.1 Oe至20 kOe，分辨率1 μOe

温度依赖性分析：温控范围-269℃至300℃，步进精度±0.1℃

各向异性测试：三维磁场扫描，角度分辨率0.1°

动态磁滞回线：频率范围DC-100 kHz，采样率1 MS/s

检测范围

纯金属材料：铜、银、铋等元素晶体

合金体系：铜镍合金、铋锑合金等

无机非金属：石墨、熔融石英、硫化锌

高分子复合材料：碳纤维增强塑料、纳米掺杂聚合物

超导材料：低温超导体（NbTi）、高温超导氧化物（YBCO）

检测方法

ASTM A342：低磁导率材料测试标准（DC法）

ISO 2178：非磁性金属镀层厚度测量

GB/T 19468：抗磁性材料磁化率测定方法

IEC 60404-15：超导材料磁性能测试规范

GB 11297.11：光学材料磁光效应检测规程

检测设备

振动样品磁强计（VSM）：型号Lake Shore 7407，量程±3 T，灵敏度10⁻⁸ emu

超导量子干涉仪（SQUID）：Quantum Design MPMS3，温度范围1.9-400 K

交变梯度磁强计：AGM2900，磁场分辨率0.1 Oe，最大场强2 T

磁光克尔显微镜：NanoMOKE3，空间分辨率500 nm

脉冲磁场发生器：HMF-3000，峰值场强60 T，脉宽15 ms