检测项目

砷（As）含量检测：检测范围0.01-5.00 ppm，精度±0.002 ppm

锑（Sb）含量检测：检测范围0.05-10.00 ppm，分辨率≤0.5%

铋（Bi）纯度分析：纯度≥99.99%，杂质总量≤50 ppm

碲（Te）晶型结构分析：XRD半峰宽≤0.1°

硒（Se）氧化态检测：Se⁴⁺/Se⁶⁺比例误差±1.5%

检测范围

锑矿石及精矿（如辉锑矿、方锑矿）

铋基合金材料（铋锡合金、铋铅合金）

碲化镉（CdTe）光伏薄膜

砷化镓（GaAs）半导体晶圆

高纯硒粉（≥99.995%）及硒化合物

检测方法

X射线荧光光谱法（XRF）：ASTM D5381，GB/T 16597

电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）：ISO 17294-2，GB/T 36244

原子吸收光谱法（AAS）：GB/T 17138，ISO 8288

X射线衍射分析（XRD）：ASTM E915，GB/T 23413

离子色谱法（IC）：ISO 10304-1，GB/T 31195

检测设备

Thermo Scientific ARL PERFORM'X XRF光谱仪：多元素同步检测，分辨率<5 eV

PerkinElmer NexION 350D ICP-MS：检出限低至0.1 ppt，动态线性范围>10⁹

Agilent 240Z AA原子吸收光谱仪：石墨炉温控精度±1℃，火焰稳定性≤0.2% RSD

Bruker D8 ADVANCE XRD系统：2θ角度范围5-160°，步进精度0.0001°

Metrohm 930 Compact IC Flex离子色谱仪：电导检测灵敏度0.5 nS/cm