空间电荷限制电流检测

检测项目

阈值电压（V_th）：0.1-1000 V，±0.5%精度

电流密度-电压（J-V）特性：10^-12-10^-2 A/cm²

载流子迁移率（μ）：10^-8-10^-2 cm²/(V·s)

陷阱密度（N_t）：10¹⁶-10²⁰ cm^-3

空间电荷分布：0.1-100 μm深度分辨率

检测范围

有机半导体薄膜：厚度50 nm-5 μm

聚合物绝缘材料：体积电阻率≥10¹⁴ Ω·cm

钙钛矿光伏材料：带隙1.2-2.3 eV

纳米复合电介质：填料粒径10-500 nm

氧化物半导体器件：工作温度-196-300℃

检测方法

ASTM Fxxxx：空间电荷限制电流法标准测试规程

ISO 17849：固体电介质载流子迁移率测定方法

GB/T 26176-2010：电子材料空间电荷效应测试通则

GB 31241-2014：半导体器件电流-电压特性测试规范

IEC 62631-3-2：介电材料电荷输运特性评估标准

检测设备

Keysight B1500A半导体分析仪：支持10 fA-1 A电流测量

Keithley 4200A-SCS参数分析仪：集成CV/IV/LIV测试模块

Agilent 4155C精密源表：最小电压分辨率1 μV

Hewlett Packard 4140B微安表：0.1 pA-10 mA量程

Semilab SDI-1000电荷分布测试系统：支持非接触式表面电位测量

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"空间电荷限制电流检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。