检测项目

微安级漏电流测试（0.1μA-1000μA±0.5%）

绝缘材料表面导电性（10^-6S/m-10^-12S/m）

半导体器件静态功耗电流（1μA-500μA±0.2%）

电化学传感器基底噪声（≤5μA@25℃）

高压设备局部放电起始电流（50μA-200μA±1%）

检测范围

半导体晶圆及封装器件（如MOSFET、IGBT）

医用植入式电子设备传感器

高压绝缘材料（环氧树脂、硅橡胶）

锂离子电池隔膜材料

航天器用抗辐射电缆组件

检测方法

ASTM D257-14：绝缘材料直流电阻/电导率测试

ISO 13485:2016：医疗器械电气安全通用要求

GB/T 17626.2-2018：电磁兼容试验静电放电抗扰度

IEC 60601-1:2005：医用电气设备漏电流测试规范

GB/T 31485-2015：动力电池单体放电性能试验

检测设备

Keysight B2985A静电计/高阻表（最小分辨率0.01fA）

Tektronix Keithley 6517B静电计（10aA-20mA量程）

Chroma 19032耐压测试仪（0-5kV/0.1μA精度）

Fluke 1587 FC绝缘电阻测试仪（0.01MΩ-10GΩ）

HIOKI IM3590化学阻抗分析仪（4μA-1A AC/DC测量）