检测项目

静态工作电流（IDDQ）：测量范围1nA-100mA@25℃±0.5℃

动态峰值电流（Ipeak）：捕捉时间窗口≤10ns的瞬态电流

漏电流（Ileakage）：分辨率达0.1pA@VDD=3.3V±5%

电源电压波动容限：±10% VDD变化下的电流稳定性

温度特性曲线：-40℃~125℃温区内ΔI≤5%

检测范围

CMOS逻辑芯片：包括MCU、FPGA等数字电路

功率半导体器件：IGBT、MOSFET模块

存储芯片：DRAM、NAND Flash存储单元

模拟集成电路：ADC/DAC转换器、运算放大器

射频芯片：5G PA模块、毫米波收发器

检测方法

ASTM F1241-22：半导体器件漏电流测试规程

IEC 60749-26:2019：集成电路热特性测试方法

GB/T 17574-2021：半导体器件电压与电流参数测试

JEDEC JESD51-12：动态电源电流测量指南

ISO 16750-2:2023：汽车电子供电环境测试标准

检测设备

Keysight B1500A半导体分析仪：支持fA级静态电流测量

Tektronix PA3000功率分析仪：带宽20MHz动态电流捕捉

Chroma 17020电源测试系统：多通道同步供电测试

Advantest T2000测试机台：量产级芯片自动化测试平台

Keithley 4200A-SCS参数分析仪：支持-55℃~150℃温控测试