检测项目
拉曼光谱D峰与G峰强度比（ID/IG）：0.1-3.0范围定量分析
透射电子显微镜（TEM）结构缺陷密度：≥500个/nm²精度测量
X射线衍射（XRD）晶格畸变率：±0.02Å分辨率测定
热重分析（TGA）非晶碳含量：0.1wt%检出限
电子顺磁共振（EPR）未配对电子浓度：10¹⁵ spins/g灵敏度
检测范围
单壁碳纳米管（SWCNT）垂直阵列材料
多壁碳纳米管（MWCNT）粉体及分散液
氮掺杂/硼掺杂功能化碳纳米管
碳纳米管-聚合物复合材料
碳纳米管薄膜与纤维制品
检测方法
ASTM E2865-12(2020)：拉曼光谱法测定碳材料结构缺陷
ISO/TS 21383:2021：扫描电子显微镜表征纳米管表面缺陷
GB/T 32868-2016：透射电镜法测定碳纳米材料晶格缺陷
ISO 19749:2021：纳米颗粒扫描电子显微术测量规范
GB/T 38904-2020：X射线衍射法测定碳材料晶体结构参数
检测设备
Renishaw inVia Qontor显微拉曼光谱仪：532nm/785nm双激光源配置
FEI Titan Themis双球差校正透射电镜：0.07nm空间分辨率
Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪：Cu靶Kα辐射源（λ=1.5406Å）
NETZSCH STA 449 F5同步热分析仪：室温~1600℃程序控温
JEOL JES-FA200电子顺磁共振波谱仪：X波段微波频率9.1-9.9GHz