检测项目

拉曼光谱D峰与G峰强度比（ID/IG）：0.1-3.0范围定量分析

透射电子显微镜（TEM）结构缺陷密度：≥500个/nm²精度测量

X射线衍射（XRD）晶格畸变率：±0.02Å分辨率测定

热重分析（TGA）非晶碳含量：0.1wt%检出限

电子顺磁共振（EPR）未配对电子浓度：10¹⁵ spins/g灵敏度

检测范围

单壁碳纳米管（SWCNT）垂直阵列材料

多壁碳纳米管（MWCNT）粉体及分散液

氮掺杂/硼掺杂功能化碳纳米管

碳纳米管-聚合物复合材料

碳纳米管薄膜与纤维制品

检测方法

ASTM E2865-12(2020)：拉曼光谱法测定碳材料结构缺陷

ISO/TS 21383:2021：扫描电子显微镜表征纳米管表面缺陷

GB/T 32868-2016：透射电镜法测定碳纳米材料晶格缺陷

ISO 19749:2021：纳米颗粒扫描电子显微术测量规范

GB/T 38904-2020：X射线衍射法测定碳材料晶体结构参数

检测设备

Renishaw inVia Qontor显微拉曼光谱仪：532nm/785nm双激光源配置

FEI Titan Themis双球差校正透射电镜：0.07nm空间分辨率

Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪：Cu靶Kα辐射源（λ=1.5406Å）

NETZSCH STA 449 F5同步热分析仪：室温~1600℃程序控温

JEOL JES-FA200电子顺磁共振波谱仪：X波段微波频率9.1-9.9GHz