检测项目
光谱线宽测量：分辨率≤1 MHz@1550nm波段
边模抑制比测试：动态范围≥60 dB
频率稳定性分析：长期漂移量≤±10 MHz/h
输出功率波动监测：RMS值＜0.5%
波长精度验证：偏差量≤±0.02 nm
检测范围
光纤激光器：掺铒/掺镱光纤增益介质系统
半导体激光器：DFB/DBR结构器件
固体激光器：Nd:YAG晶体谐振腔系统
气体激光器：He-Ne/CO2放电管装置
光学谐振腔组件：法布里-珀罗标准具/光纤光栅
检测方法
ASTM E387-04(2020)：光谱分析法测定线宽特性
ISO 11146-3:2022：激光光束质量参数测量规范
GB/T 15175-2012：固体激光器主要参数测试方法
IEC 60825-1:2014：激光产品安全等级评估标准
GB/T 31359-2015：半导体激光器测试方法通则
检测设备
高分辨率光谱分析仪（Yokogawa AQ6370D）：波长范围600-1700nm，分辨率0.02nm
微波频谱分析仪（Keysight N9020B）：频率范围10MHz-26.5GHz，相位噪声≤-110dBc/Hz@10kHz偏移
高精度波长计（Bristol 621A）：绝对精度±0.2pm@1550nm波段
光电探测器（Newport 818-BB-30）：响应带宽12GHz，NEP≤1pW/√Hz
激光功率计（Ophir Vega）：测量范围10nW-10W，不确定度±1.5%
频率稳定性分析仪（Keysight 53230A）：时间间隔分辨率20ps