单纵模检测

检测项目

光谱线宽测量：分辨率≤1 MHz@1550nm波段

边模抑制比测试：动态范围≥60 dB

频率稳定性分析：长期漂移量≤±10 MHz/h

输出功率波动监测：RMS值＜0.5%

波长精度验证：偏差量≤±0.02 nm

检测范围

光纤激光器：掺铒/掺镱光纤增益介质系统

半导体激光器：DFB/DBR结构器件

固体激光器：Nd:YAG晶体谐振腔系统

气体激光器：He-Ne/CO₂放电管装置

光学谐振腔组件：法布里-珀罗标准具/光纤光栅

检测方法

ASTM E387-04(2020)：光谱分析法测定线宽特性

ISO 11146-3:2022：激光光束质量参数测量规范

GB/T 15175-2012：固体激光器主要参数测试方法

IEC 60825-1:2014：激光产品安全等级评估标准

GB/T 31359-2015：半导体激光器测试方法通则

检测设备

高分辨率光谱分析仪（Yokogawa AQ6370D）：波长范围600-1700nm，分辨率0.02nm

微波频谱分析仪（Keysight N9020B）：频率范围10MHz-26.5GHz，相位噪声≤-110dBc/Hz@10kHz偏移

高精度波长计（Bristol 621A）：绝对精度±0.2pm@1550nm波段

光电探测器（Newport 818-BB-30）：响应带宽12GHz，NEP≤1pW/√Hz

激光功率计（Ophir Vega）：测量范围10nW-10W，不确定度±1.5%

频率稳定性分析仪（Keysight 53230A）：时间间隔分辨率20ps

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"单纵模检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。