检测项目

元素组成分析（检测参数：Na, K, Hg, Xe 等元素含量范围 0.1ppb-1000ppm）

气体杂质含量测定（检测参数：O₂≤5ppm, N₂≤10ppm, H₂O≤3ppm）

同位素丰度比测定（检测参数：²⁰Ne/²²Ne≥9.8, ¹³⁶Xe/¹³²Xe≤0.33）

表面污染物分析（检测参数：C≤50μg/cm², Si≤5μg/cm²）

痕量金属迁移量测试（检测参数：Pb≤0.1μg/g, Cd≤0.01μg/g）

检测范围

LED荧光粉材料（YAG:Ce³⁰,氮化物荧光粉）

气体放电灯填充介质（氙气、氖氩混合气）

卤素灯钨丝涂层材料（Al₂O₃掺杂钨基体）

OLED有机发光层材料（Ir(ppy)₃配合物）

激光器增益介质（Nd:YAG晶体）

检测方法

电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）：ASTM E1504-2018, GB/T 20127.3-2020

二次离子质谱法（SIMS）：ISO 18114-2021, GB/T 35099-2018

气相色谱-质谱联用法（GC-MS）：ISO 6974-1:2019, GB/T 28726-2021

辉光放电质谱法（GD-MS）：ASTM F1710-2008(2020)

激光剥蚀质谱法（LA-ICP-MS）：ISO 17294-2:2016, GB/T 34826-2017

检测设备

Thermo Fisher Scientific iCAP TQe ICP-MS（多元素痕量分析）

Agilent 8900 Triple Quadrupole ICP-MS（超低检出限同位素分析）

Cameca IMS 7f-Auto SIMS（表面/界面微区成分分析）

Extrel MAX300-LG Process Mass Spectrometer（在线气体杂质监测）

Nu Instruments Nu Plasma III MC-ICP-MS（高精度同位素比值测定）