检测项目

1.气体电离系数：测量电场强度(0.1-10kV/cm)下的电子崩增系数α值

2.固体材料本征电离系数：测定击穿场强(10^6-10^8V/m)下的载流子生成速率

3.液体介质电离阈值：检测临界场强(1-50kV/mm)时的起始放电电压

4.表面放电电离特性：分析表面电荷密度(10^-9-10^-6C/cm)对局部电离的影响

5.温度依存性测试：在-70℃至300℃范围内测定电离系数的温度系数β值

检测范围

1.半导体材料：硅晶圆、GaN基板等第三代半导体材料的本征电离特性

2.绝缘介质：环氧树脂、聚酰亚胺薄膜等聚合物材料的体积/表面电离参数

3.高压设备组件：GIS用SF6气体绝缘介质的电子崩发展特性

4.医疗设备部件：CT机X射线管内部真空环境的残余气体电离度

5.航天器材料：空间级电缆绝缘层的宇宙射线致电离响应特性

检测方法

ASTMD257-14：绝缘材料直流电阻与电导率标准试验方法

IEC60243-1:2013固体绝缘材料电气强度测定规程

GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下介电常数和介质损耗因数的方法

ISO1853:2018导电和抗静电橡胶体积电阻率测定

GB/T1693-2007硫化橡胶工频击穿电压强度和耐电压测定方法

检测设备

1.Keithley6517B静电计：测量10aA-20mA微弱电流的基准仪器

2.Agilent4294A阻抗分析仪：40Hz-110MHz频段介电特性分析系统

3.Trek610E高压放大器：0-20kV可调直流高压源

4.HIOKIIM3570绝缘电阻测试仪：10^3-10^16Ω超高阻测量模块

5.OmicronBDS1300击穿强度测试仪：0-30kV交流/直流击穿试验系统

6.KeysightB1505A功率器件分析仪：nA级漏电流精确测量单元

7.FLIRA655sc红外热像仪：放电过程温度场分布监测装置

8.PfeifferVacuumHiCube80Eco真空系统：10^-6mbar级洁净测试环境构建

9.LabsphereLMS-7600光谱辐射计：放电光辐射谱分析组件

10.NationalInstrumentsPXIe-4143源测量单元：多通道同步数据采集系统