检测项目

1.灵敏度测试：测量微瓦级光功率下的电流输出精度（0.5nA）

2.暗电流分析：在零光照条件下检测基底噪声（≤1pA/cm）

3.响应时间测定：记录纳秒级上升/下降沿时间（10ns分辨率）

4.光谱响应特性：扫描300-1700nm波长范围的量子效率（QE≥80%）

5.温度稳定性试验：-40℃至+85℃环境下的输出漂移（Δ＜0.05%/℃）

检测范围

1.硅基光电二极管阵列（Si-PDArray）

2.雪崩光电二极管（APD）模块

3.互补金属氧化物半导体图像传感器（CMOSImageSensor）

4.铟镓砷近红外探测器（InGaAsNIRDetector）

5.光电倍增管组件（PMTAssembly）

检测方法

ASTME2593-17：光电探测器绝对光谱响应测量规程

ISO16505:2015：道路车辆图像传感器光学性能测试

GB/T15633-2020：半导体光电器件参数测试方法

GB/T26183-2010：红外焦平面阵列特性测量规范

IEC60747-5-5:2020：分立器件-光电子器件测试标准

检测设备

1.AgilentB2902A精密源表：提供pA级电流测量精度

2.KeysightN9020BMXA信号分析仪：50GHz带宽噪声分析

3.OrielCS260B单色仪系统：0.1nm波长精度光谱扫描

4.TektronixDPO73304S示波器：33GHz采样率响应时间测量

5.ESPECSH-642恒温恒湿箱：0.1℃温控稳定性测试

6.LabsphereUSS-1200D均匀光源系统：99%空间均匀性校准

7.Keithley2636B双通道源表：同步I-V特性曲线扫描

8.HamamatsuC12132光子计数单元：单光子级别灵敏度验证

9.BrukerContourGT-X3白光干涉仪：表面形貌三维分析

10.Fluke6100A电能标准源：供电纹波特性测试（≤1mVpp）