检测项目
1.灵敏度测试：测量微瓦级光功率下的电流输出精度（0.5nA）
2.暗电流分析：在零光照条件下检测基底噪声（≤1pA/cm）
3.响应时间测定：记录纳秒级上升/下降沿时间（10ns分辨率）
4.光谱响应特性：扫描300-1700nm波长范围的量子效率（QE≥80%）
5.温度稳定性试验：-40℃至+85℃环境下的输出漂移（Δ＜0.05%/℃）
检测范围
1.硅基光电二极管阵列（Si-PDArray）
2.雪崩光电二极管（APD）模块
3.互补金属氧化物半导体图像传感器（CMOSImageSensor）
4.铟镓砷近红外探测器（InGaAsNIRDetector）
5.光电倍增管组件（PMTAssembly）
检测方法
ASTME2593-17：光电探测器绝对光谱响应测量规程
ISO16505:2015：道路车辆图像传感器光学性能测试
GB/T15633-2020：半导体光电器件参数测试方法
GB/T26183-2010：红外焦平面阵列特性测量规范
IEC60747-5-5:2020：分立器件-光电子器件测试标准
检测设备
1.AgilentB2902A精密源表：提供pA级电流测量精度
2.KeysightN9020BMXA信号分析仪：50GHz带宽噪声分析
3.OrielCS260B单色仪系统：0.1nm波长精度光谱扫描
4.TektronixDPO73304S示波器：33GHz采样率响应时间测量
5.ESPECSH-642恒温恒湿箱：0.1℃温控稳定性测试
6.LabsphereUSS-1200D均匀光源系统：99%空间均匀性校准
7.Keithley2636B双通道源表：同步I-V特性曲线扫描
8.HamamatsuC12132光子计数单元：单光子级别灵敏度验证
9.BrukerContourGT-X3白光干涉仪：表面形貌三维分析
10.Fluke6100A电能标准源：供电纹波特性测试（≤1mVpp）