反射式探仪检测

检测项目

1.表面反射率测定：波长范围200-2500nm，测量精度0.5%

2.膜层厚度分析：分辨率达0.1nm（单层膜），多层膜误差≤3%

3.缺陷密度检测：最小可识别缺陷尺寸10μm10μm

4.折射率测量：精度0.002（可见光波段）

5.偏振特性表征：消光比测试范围1:10^3~1:10^6

检测范围

1.金属材料：铝、铜合金等表面氧化层与镀膜质量评估

2.光学镀膜：增透膜、分光膜等光学器件的膜系结构验证

3.半导体材料：晶圆表面粗糙度与薄膜均匀性分析

4.高分子材料：聚合物涂层厚度与界面结合状态检测

5.陶瓷复合材料：微观裂纹与孔隙率定量表征

检测方法

ASTME903-20《材料太阳吸收率与反射率测试标准》

ISO13696:2002《光学元件散射特性测量方法》

GB/T14583-1993《材料表面反射特性测试规范》

GB/T26323-2010《光学功能薄膜厚度测试方法》

ISO14706:2014《表面化学分析-全反射X射线荧光光谱法》

检测设备

1.PerkinElmerLambda1050+：紫外-可见-近红外分光光度计，支持8~70入射角调节

2.FilmetricsF20系列：白光干涉膜厚测量仪，测量速度＜3秒/点

3.BrukerContourGT-X3：三维光学轮廓仪，垂直分辨率0.1nm

4.HoribaUVISEL2：椭圆偏振光谱仪，支持190-2100nm宽谱分析

5.OlympusOmniScanX3：相控阵超声探伤仪，128阵元探头组

6.KeyenceVK-X1000：激光共聚焦显微镜，支持120mm100mm大视场扫描

7.MalvernPanalyticalEmpyrean：X射线反射仪，角度重复性0.0001

8.ZygoNewView9000：干涉显微系统，RMS粗糙度测量范围0.1nm~10μm

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"反射式探仪检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。