检测项目

1.波长范围：400-1800nm（紫外至近红外波段）

2.频率稳定性：5ppm@25℃恒温环境

3.相位噪声：≤-110dBc/Hz@10kHz偏移

4.偏振消光比：≥30dB@1550nm波长

5.波前畸变：RMS值≤λ/20（λ=632.8nm）

检测范围

1.光学晶体（铌酸锂/钽酸锂等电光材料）

2.半导体激光器（VCSEL/DFB激光芯片）

3.光子集成电路（硅基光波导器件）

4.超材料（负折射率人工电磁结构）

5.光纤器件（保偏光纤/光纤光栅组件）

检测方法

1.ASTME2104-00(2021)偏振相关损耗测量标准

2.ISO11151-1:2015激光器波长稳定性测试规范

3.GB/T13739-2018光学晶体相位匹配角测定方法

4.IEC62129-3:2019光器件频率响应校准规程

5.GB/T31227-2014光学薄膜群延迟色散测试标准

检测设备

1.KeysightN9030B频谱分析仪（频率范围10MHz-50GHz）

2.Agilent8509C光波元件分析仪（波长1520-1620nm）

3.ZygoVerifireMST干涉仪（精度λ/100PV值）

4.NewportAutoTrackIII锁相放大器（频率1mHz-250kHz）

5.ThorlabsPAX1000偏振分析仪（波长400-1700nm）

6.EXFOFTB-5240S-P可调谐激光源（输出功率0.02dB）

7.OphirVega功率计（量程10nW-10W）

8.LunaTechnologiesOBR4600光频域反射计（空间分辨率10μm）

9.Gooch&HousegoOL-750光谱响应测试系统

10.HindsPEM-100光电弹性调制器（调制频率50kHz）