检测项目
1.漏电流测试：测量范围0.1pA-10mA，分辨率0.05%
2.偏置电压稳定性：电压范围50V，波动率≤0.02%/h
3.绝缘电阻测试：阻值范围10MΩ-100TΩ，精度1%
4.热漂移系数：温度范围-55℃~150℃，偏差量≤5μV/℃
5.长期稳定性：持续测试1000h以上，数据采样间隔≤10s
检测范围
1.半导体分立器件（二极管、晶体管等）
2.集成电路芯片（运算放大器、ADC/DAC模块）
3.磁性存储材料（铁氧体、坡莫合金）
4.高精度传感器（霍尔元件、压力传感器）
5.电力电子模块（IGBT、MOSFET功率器件）
检测方法
ASTMF1249-2021《半导体器件静态参数测试规范》
ISO16750-2:2023《道路车辆电气负荷试验标准》
GB/T17573-2020《半导体器件分立器件测试方法》
GB/T2423.30-2022《环境试验第2部分：试验方法》
IEC60749-27:2020《半导体器件机械和气候试验方法》
检测设备
1.KeysightB1500A半导体分析仪：支持0.1fA级微电流测量
2.TektronixKeithley2450源表：集成式IV/CV特性分析功能
3.Fluke8846A精密万用表：6位分辨率直流参数测试
4.Chroma19032高阻计：最大量程10PΩ绝缘测试
5.AgilentE4980ALLCR表：20Hz-2MHz频率阻抗分析
6.ESPECPL-3KPH恒温箱：温度控制精度0.3℃
7.HIOKIRM3545微电阻计：最小分辨率0.01μΩ
8.AdvantestR6243电压电流源：四象限输出模式
9.NIPXIe-4143模块化仪器：多通道同步采集系统
10.ThermoScientificOrionStarA329pH/ISE计：特殊电极适配方案