检测项目

1. 波长精度：测量范围200-2500nm，误差≤±0.1nm

2. 光谱分辨率：全波段半峰宽≤0.05nm（FWHM）

3. 线性动态范围：10^6:1（@500nm）

4. 杂散光水平：≤0.0001% (@220nm)

5. 基线稳定性：30min漂移≤±0.0005Abs

检测范围

1. 单晶/多晶光学材料（氟化钙、石英、蓝宝石）

2. 半导体晶圆（硅片、砷化镓、磷化铟）

3. 激光晶体（Nd:YAG、钛宝石、铌酸锂）

4. 荧光材料（YAG:Ce³⁺、量子点薄膜）

5. 光学镀膜材料（增透膜、高反膜）

检测方法

ASTM E275-08(2017) 分光光度计性能验证标准

ISO 13142:2015 激光器用光学元件光谱测试规范

GB/T 26824-2021 纳米材料紫外-可见吸收光谱测定法

GB/T 13384-2008 光学晶体双折射率测试方法

ISO 14707:2015 辉光放电光谱仪校准规程

检测设备

1. PerkinElmer Lambda 1050+：双光束紫外/可见/近红外系统（190-3300nm）

2. Shimadzu UV-2600i：积分球附件支持漫反射测试

3. Agilent Cary 7000 UMS：全自动可变角光谱椭偏仪

4. Horiba iHR550：0.02nm分辨率成像光谱仪

5. Bruker VERTEX 80v：真空型傅里叶红外光谱仪

6. Ocean Insight HR4000CG-UV-NIR：光纤式微型光谱仪

7. JASCO V-770：超微量样品池（1μL测试能力）

8. Zolix Omni-λ3005i：单色仪波长重复性±0.01nm

9. Avantes AvaSpec-ULS2048CL-EVO：高速CCD阵列探测器

10. Thermo Scientific Evolution 220：Peltier温控样品室