检测项目

1. 粒径分布：测量D10/D50/D90值（激光衍射法），范围0.1-1000μm

2. 晶型一致性：通过XRD分析半峰宽（FWHM≤0.5°）

3. 比表面积：BET法测定（精度±0.05 m²/g）

4. 悬浮液浓度：紫外分光光度计检测（波长254nm）

5. Zeta电位：动态光散射法（测量范围±200mV）

检测范围

1. 半导体单晶硅籽晶

2. 分子筛催化剂前驱体

3. 药物活性成分结晶核

4. 钙钛矿光伏材料晶种

5. 纳米氧化锆陶瓷粉体

检测方法

1. ASTM E2865-21：激光衍射法粒径分析标准

2. ISO 13320:2020：粒度分布测量通则

3. GB/T 19587-2017：气体吸附BET比表面测定

4. GB/T 15445.6-2014：粒度分析图像法

5. ISO 22412:2017：动态光散射纳米颗粒测量

检测设备

1. 马尔文帕纳科Mastersizer 3000：激光粒度仪（0.01-3500μm）

2. 麦克ASAP 2460：全自动比表面及孔隙度分析仪

3. FEI Quanta 650 FEG：场发射扫描电镜（分辨率1nm）

4. 布鲁克D8 ADVANCE：X射线衍射仪（2θ精度±0.0001°）

5. 贝克曼DelsaMax Pro：Zeta电位及分子量分析系统

6. 岛津UV-2600i：紫外可见分光光度计（波长范围190-1400nm）

7. 安捷伦Cary 630：傅里叶变换红外光谱仪

8. 日立SU9000：冷场发射扫描电镜（放大倍数×2,000,000）

9. 梅特勒托利多DSC3+：差示扫描量热仪（温度精度±0.02℃）

10. 珀金埃尔默TMA4000：热机械分析仪（位移分辨率0.1nm）